![](/upload/resize_cache/iblock/ba6/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/ba6c27104db69bc22b2afe8f47e3aad9.png)
По запросу
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
![Apreo 2 SEM Apreo 2 SEM](/upload/resize_cache/iblock/cfe/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/apreo_2_sem_tfs.png)
По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
![](/upload/resize_cache/iblock/986/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/aquilos_cryo_fib_front.jpg)
По запросу
Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это двулучевой микроскоп с возможностью заморозки образцов, который обеспечивает оптимальную подготовку проб для последующих исследований в просвечивающем микроскопе (ПЭМ/TEM) методом крио-томографии.
По запросу
СЭМ нового поколения с высоким уровнем автоматизация процесса исследования, сокращенным в 2 раза временем анализа образца и расширенными функциями визуализации. Обладает возможностью исследовать образцы максимального размера и массы - до 10 кг!
![](/upload/resize_cache/iblock/bbf/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/bbf5b763b51e3acaeadbb9618b2429a1.jpg)
По запросу
Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом
![](/upload/resize_cache/iblock/9e2/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/9e2f4f1762703bb5d62556c6a7319bf2.jpg)
По запросу
Настольный сканирующий электронный микроскоп EXpress ASPEX (FEI) с энергодисперсионным анализом
![ExSolve 2 WTP ExSolve 2 WTP](/upload/resize_cache/iblock/257/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/exsolve_2_wtp.png)
По запросу
Загрузка пластин: 300 мм
Производительность при толщине 25 нм: 4 ламели / час
Высокопроизводительная система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин.
![](/upload/resize_cache/iblock/0de/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/0debc363bc73bbddb4ae9461882f2e60.jpg)
По запросу
EXtreme ASPEX (FEI) — мобильный сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом для проведения исследования в полевых условиях
![Установка flexPROBER Установка flexPROBER](/upload/resize_cache/iblock/0d0/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/flexprober_1.png)
По запросу
Размеры образца (max): до 50 мм
Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ
Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Бюджетная, эффективная и простая в использовании установка для нанотестирования на базе сканирующего электронного микроскопа.
Обеспечивает измерение электрических характеристик, локализацию сбойных узлов, отладку и анализ отказов.
![](/upload/resize_cache/iblock/455/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/glacios_tem_product_465x465.png)
По запросу
Thermo Scientific ™ Glacios ™ Cryo - просвечивающий электронный микроскоп (крио-TEM), комплексное решение по доступной цене для исследований широкого круга задач.
![](/upload/resize_cache/iblock/fb3/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/helios_5_front.png)
По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga.
По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для анализа отказов
![](/upload/resize_cache/iblock/b17/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/fei_helios_g4_ux_web.jpg)
По запросу
Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.
![](/upload/resize_cache/iblock/4ef/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/4ef2ef12ac161c3dfe57edf7cf2e825f.jpg)
По запросу
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.
![](/upload/resize_cache/iblock/c5f/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/mikrotomograf_1.jpg)
По запросу
Универсальное решение в области компьютерной микротомографии (microCT) для количественного анализа, проводимого различными методами в рамках материаловедения.
![Hyperion II Hyperion II](/upload/resize_cache/iblock/b09/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/hyperion_2.png)
По запросу
Установка Hyperion II – это атомно-силовой зондирующий микроскоп (AFP), построенный на базе нанозондовой платформы, в котором используется несколько сканирующих зондов для визуализации топологии тестируемого устройства и установления электрического контакта с исследуемым объектом.
Атомно-силовой зондирующий микроскоп Hyperion II Thermo Fisher Scientific предназначен для быстрого тестирования полупроводниковых устройств и отображения токов.
![](/upload/resize_cache/iblock/da5/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/da5221515174d4905de520b0d18d7a15.jpg)
По запросу
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
По запросу
Оптическая система изоляции неисправностей для неразрушающей локализации электрических дефектов в узлах длиной менее 10 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/9bc/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/meridian_7_465.png)
По запросу
Целостная система для анализа отказов, разработанная для облегчения анализа статических и параметрических дефектов в технологиях 45 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/e13/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/ris_2_metrios.png)
По запросу
Угол EDS: 1.8
Thermo Scientific ™ Metrios™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп (TEM), профессиональное высокопроизводительное комплексное решение для анализа отказов.
Желаете купить микроскопы с высокого разрешения? Цена в Москве на исследовательское оборудование мирового уровня от ООО «Серния Инжиниринг» - это одно из лучших предложений на российском рынке. Мы предлагаем купить высококачественные исследовательские цифровые и электронные микроскопы от ведущих мировых производителей, с высоким разрешением от нескольких нанометров, а также профессиональное оборудование для научных исследований и производственных лабораторий.
Особенности
Современные исследовательские микроскопы, купить которые вы можете сделав выбор из нашего каталога – это сложные и функционально наполненные модели, сочетающие сбалансированные конструкторские и технологические решения. Использование инновационных методик получения высокого увеличения, обработки и фиксации изображения позволяет добиться высоких результатов в лабораторных исследованиях, особенно с применением специализированных устройств, в т.ч. микроскопов высокого разрешения.
Представленные вашему вниманию лучшие микроскопы для лабораторных исследований, цена которых ниже среднерыночной, идеально подходят в качестве основы для исследовательского микроскопного комплекса. Многие модели FEI сочетают компактность, аналитику и высокое разрешение электронной микроскопии, обладают широким спектром возможностей для автоматизации лабораторного рабочего процесса.
Все представленные вашему вниманию модели характеризуются:
- Высокой производительностью.
- Простым и интуитивно понятным управлением.
- Полной интеграцией всех систем.
- Автоматизацией рутинных процессов в исследованиях.
- Высоким уровнем защиты от влияния внешней среды.
Оборудование от ООО "Серния Инжиниринг" - это доступные цены, широкий ассортимент от ведущих производителей, индивидуальные условия сотрудничества, сжатые сроки поставок и установки, удобные формы оплаты, гарантийное и послегарантийное обслуживание.