![](/upload/resize_cache/iblock/631/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/631fe333330b29b1ce52f0ded41abb4f.jpg)
По запросу
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
![Установка nPROBER III Установка nPROBER III](/upload/resize_cache/iblock/6b9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/nprober_iii.png)
По запросу
Количество позиционеров зондов: 8
Размеры образца (max): до 50 мм
Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ
Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Передовая высокопроизводительная нанозондовая система на базе сканирующего микроскопа для процессов изготовления полупроводниковых приборов, отладки проектов и анализа отказов. Параметр измерения электрических характеристик и локализации дефектов электрических узлов с геометрическими с разрешением - до 7 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/d57/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/optifib_taipan_1.jpg)
По запросу
Разрешение изображений FIB: менее 3.0 нм
Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ – 30 кВ
Ток пучка: Ток пучка 250 фА – 20 нА
![Система ожэ-миркоскопии PHI 710 Система ожэ-миркоскопии PHI 710](/upload/resize_cache/iblock/ca9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/710_phi.png)
По запросу
Система из электронно-лучевой колонны, устройства прецизионного позиционирования образцов, продвинутой вибро- и теплоизоляции с полным спектром возможностей для формирования изображений и проведения оже-спектроскопии наноструктур с увеличением до 500 тыс. крат и выше.
![](/upload/resize_cache/iblock/518/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_preview.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
![](/upload/resize_cache/iblock/7c0/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_500.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
![](/upload/resize_cache/iblock/c2c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/snimok2.jpg)
По запросу
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/71b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quanta_650_web.jpg)
По запросу
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
![](/upload/resize_cache/iblock/0f9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/0f9531d6cd672617835a49ed14efb8f2.png)
По запросу
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![PHI Quantes PHI Quantes](/upload/resize_cache/iblock/c7c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quantes_hires.png)
По запросу
Диаметр рентгеновского пучка (Cr): менее 14 мкм
Диаметр рентгеновского пучка (Al): менее 10 мкм
Уникальная комбинированная система сканирующей электронной спектроскопии (технология XPS/HAXPES).
![](/upload/resize_cache/iblock/66d/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quattro_465x465.png)
По запросу
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/5e5/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/scios_2_dualbeam.jpg)
По запросу
Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ
Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ
Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА
В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
![](/upload/resize_cache/iblock/b4b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/b4b7e1c2b24fe1f88b9d871343153d65.jpg)
По запросу
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
![](/upload/resize_cache/iblock/ee1/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/talos_arctica_1.png)
По запросу
Предел разрешения ПЭМ: от ≤ 0,23 нм до ≤ 0,34 нм
Разрешение STEM (опция): < 0.23 нм
Просвечивающий криоэлектронный микроскоп - быстрое, эффективное и точное получение трехмерных макромолекулярных структур в высоком разрешении.
![](/upload/resize_cache/iblock/0dd/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/f200i_web.jpg)
По запросу
Большая производительность, большая гибкость – возможность проведения более углубленных исследований в материаловедении.
![](/upload/resize_cache/iblock/5a6/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/talos_l120c_465x_l.png)
По запросу
Обеспечивает доказанные на практике и оптимальные эксплуатационные показатели получения изображения на гибкой модульной платформе, максимально удобной в эксплуатации.
![](/upload/resize_cache/iblock/07b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/07b9fb5226d590d61cd57399ac579afa.png)
По запросу
FEI Talos™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, разработанный с целью предоставить исследователю возможность быстро получать информацию об объектах в форматах 2D и 3D.