пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91
Москва
Санкт-Петербург
По всей России
Москва
Санкт-Петербург
По всей России

Микроэлектроника и измерительное оборудование

Комплексные проекты трансфера технологий
О нашей компании в деталях

Компания поставляет широкий спектр научно-исследовательского оборудования: осциллографы, анализаторы спектра, генераторы функций и сигналов, мультиметры, электрометры, источники питания, антенны, безэховые камеры, оборудование для анализа отказов, электронные и оптические микроскопы, оборудование для виброзащиты и подавления электромагнитных помех, системы декапсуляции и плазменной обработки поверхности, литографические системы, зондовые станции и др.

Мы напрямую сотрудничаем со всемирно известными производителями: Tektronix, ETS-Lindgren, A.H.Systems, Rohde&Schwarz, Thermo Fisher Scientific, TMC, Nisene Technology Group, Control Laser, CRESTEC, Henniker Plasma, Picosun, Trion Technology, Plassys, Riscure, SemiProbe, Sisma.

Наши специалисты изучают мировой опыт и трансформирует его под российские реалии. Одними из главных направлений деятельности нашей компании являются анализ отказов в микроэлектронике и подбор передовых решений для разработок в области квантовых компьютеров.

Главное преимущество нашей компании - комплексный подход в работе. Мы не просто поставляем оборудование, мы обеспечиваем нашим клиентам всесторонюю поддержку: консультации по применению оборудования, гарантийный и постгарантийный сервис, методическую поддержку.

Особое внимание мы уделяем разработке методов, необходимых для работы на нашем оборудовании. В рамках этой деятельности мы проводим следующие работы:

- Экспериментальная отработка методик на аналитическом оборудовании, постановка процессов;

- Создание программ обучения для пользователей аналитического и технологического оборудования;

- Исследования методик и их классификация для направлений в микроэлектронике;

- Разработка и внедрение методов редактирования кристаллов микросхем на различных уровнях металлизации, с использованием технологических норм 40, 90, 180 (нм);

- Разработка методов параметрического анализа полупроводниковых элементов аналоговых микросхем, в том числе на кристалле с последующим восстановлением принципиальной электрической схемы и ее симуляции;

- Проведение сравнительного анализа микросхем на выборке из разных партий поставки (визуальный осмотр, измерения параметров корпуса, электрические измерения и проч.);

- Проведение сравнительного анализа микросхем с параметрами, указанными в документации, на выборке из партии поставки (визуальный осмотр, измерения параметров корпуса, электрические измерения, и пр.).