- Антенны
- Оборудование для ЭМС
- Измерительное оборудование
- Микроскопы
- Оборудование для атомно-слоевого осаждения материалов
- ОФЭКТ и ПЭТ системы
- Дополнительное оборудование для микроскопии
- Оборудование для виброзащиты
- Оборудование для защиты от магнитных полей
- Электронно-лучевые литографические системы
- Оборудование для травления и осаждения материалов
- Оптические столы TMC CleanTop
- Оборудование для разработки квантовых компьютеров
Компания поставляет широкий спектр научно-исследовательского, лабораторного, промышленного оборудования: осциллографы, анализаторы спектра, генераторы функций и сигналов, мультиметры, электрометры, источники питания, антенны, безэховые камеры, оборудование для анализа отказов, электронные и оптические микроскопы, оборудование для виброзащиты и подавления электромагнитных помех, системы декапсуляции и плазменной обработки поверхности, литографические системы, зондовые станции и др.
Наши специалисты изучают мировой опыт и трансформирует его под российские реалии. Одними из главных направлений деятельности нашей компании являются анализ отказов в микроэлектронике и подбор передовых решений для разработок в области квантовых компьютеров.
Главное преимущество работы с нами - комплексная работа. Мы не просто поставляем оборудование, мы обеспечиваем нашим клиентам всесторонюю поддержку: консультации по применению оборудования, гарантийный и постгарантийный сервис, методическую помощь.
Особое внимание мы уделяем разработке методик, необходимых для применения оборудования. В рамках этой деятельности мы проводим следующие работы:
- Экспериментальная отработка методик на аналитическом оборудовании, постановка процессов;
- Создание программ обучения для пользователей аналитического и технологического оборудования;
- Исследования методик и их классификация для направлений в микроэлектронике;
- Разработка и внедрение методов редактирования кристаллов микросхем на различных уровнях металлизации, с использованием технологических норм 40, 90, 180 (нм);
- Разработка методов параметрического анализа полупроводниковых элементов аналоговых микросхем, в том числе на кристалле с последующим восстановлением принципиальной электрической схемы и ее симуляции;
- Проведение сравнительного анализа микросхем на выборке из разных партий поставки (визуальный осмотр, измерения параметров корпуса, электрические измерения и проч.);
- Проведение сравнительного анализа микросхем с параметрами, указанными в документации, на выборке из партии поставки (визуальный осмотр, измерения параметров корпуса, электрические измерения, и пр.).