![Параметрический анализатор Keithley Параметрический анализатор Keithley](/upload/resize_cache/iblock/833/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/8335759a3fb8b07addf620de7e3e586a.jpg)
По запросу
НОВИНКА!! 4200A-SCS Keithley - конфигурируемый параметрический анализатор, ускоряет измерение электрических характеристик полупроводниковых приборов и материалов, параметров тех.процессов за счет применения стандартных процедур измерения и упрощения измерительных схем.
![](/upload/resize_cache/iblock/d5c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/d5c237c8a63bc5f6d27683a44924ce81.jpg)
По запросу
Минимальная ширина линии: 10 нм
Ускоряющее напряжение: 50 кВ, 30 кВ
Является лучшей моделью для производства DFD лазерных диодов для оптических устройств связи.
![](/upload/resize_cache/iblock/569/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/5691192bc68310bfb06a2c8b03b6f642.jpg)
По запросу
Минимальная ширина линии: 7 нм
Ускоряющее напряжение: 90 кВ, 110 кВ или 130 кВ
Самое высокое ускоряющее напряжение на рынке - 130 кВ!
![](/upload/resize_cache/iblock/e93/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/tmc_class_one_1.png)
По запросу
Нагрузка: до 160 кг
Материал: нержавеющая сталь
Требуемые газы: азот или воздух
Давление: 80 psi
Прецизионный стол исследовательского класса из нержавеющей стали для чистых помещений с максимальным уровнем демпфирования.
![](/upload/resize_cache/iblock/a0c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/a0c1a3f85857dbe1c8ef615b55aad36a.jpg)
По запросу
Electro-Damp® представляет собой активную пневматическую систему виброзащиты, разработанную специально для улучшения условий высокоточных полупроводниковых производственных площадок.
![Elite DX Elite DX](/upload/resize_cache/iblock/728/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/elite_dx.png)
По запросу
Разрешение по глубине: до 20 мкм
Модельный ряд: ELITE DX, ELITE VX, ELITE Lite
Тестируемые устройства: Кристаллы микросхемы, печатные платы, модули, корпуса, пластины, части пластин
Детектируемые дефекты: короткие замыкания, утечки, резистивные обрывы
Линейка термоэмиссионных микроскопов с высокочувствительной инфракрасной-камерой (ИК-камерой). Подходят для сквозного проектирования корпусов и обнаружения электрических дефектов на кристалле микросхемы или печатной плате.
![](/upload/resize_cache/iblock/2b8/u221yrozyl1onxhq9ng7wib548jkfxmx/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/01_1.jpg)
По запросу
Система подавления электромагнитных помех FDЗ000 – это система экранирова-ния с активной компенсацией магнитного поля за счет изменения электрического поля.
![Установка flexPROBER Установка flexPROBER](/upload/resize_cache/iblock/0d0/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/flexprober_1.png)
По запросу
Размеры образца (max): до 50 мм
Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ
Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Бюджетная, эффективная и простая в использовании установка для нанотестирования на базе сканирующего электронного микроскопа.
Обеспечивает измерение электрических характеристик, локализацию сбойных узлов, отладку и анализ отказов.
![Hyperion II Hyperion II](/upload/resize_cache/iblock/b09/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/hyperion_2.png)
По запросу
Установка Hyperion II – это атомно-силовой зондирующий микроскоп (AFP), построенный на базе нанозондовой платформы, в котором используется несколько сканирующих зондов для визуализации топологии тестируемого устройства и установления электрического контакта с исследуемым объектом.
Атомно-силовой зондирующий микроскоп Hyperion II Thermo Fisher Scientific предназначен для быстрого тестирования полупроводниковых устройств и отображения токов.
![](/upload/resize_cache/iblock/5bc/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/dsc_7787.png)
По запросу
Диаметр электронного пучка: 0,1 мкм
Увеличение min: x40
Увеличение max: x20000
Специализированная ЭЛТ установка на базе СЭМ, предназначенная для бесконтактного измерения быстропротекающих электрических сигналов. Установка используется для измерения характеристик, отладки и анализа логических схем.
![](/upload/resize_cache/iblock/95b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/inspector_fl_web1.jpg)
По запросу
Платформа предназначена для оценки устойчивости микросхем к атакам методом внесения сбоев (Fault Injection).
![](/upload/resize_cache/iblock/e64/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/riscure_inspector_sca_web.jpg)
По запросу
Платформа для оценки стойкости микросхем, чипов, смарт-карт ко внешним воздействиям.
![](/upload/resize_cache/iblock/622/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/622230a444c5270584bdb952a8300d69.png)
По запросу
![](/upload/resize_cache/iblock/1be/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/1be2eb604b26bf57ca69bc0c24817248.jpg)
По запросу
MagNetX TMC — система компенсации магнитного поля для СЭМ, ПЭМ, ФИП, систем литографии
По запросу
Оптическая система изоляции неисправностей для неразрушающей локализации электрических дефектов в узлах длиной менее 10 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/9bc/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/meridian_7_465.png)
По запросу
Целостная система для анализа отказов, разработанная для облегчения анализа статических и параметрических дефектов в технологиях 45 нм.
![Установка nPROBER III Установка nPROBER III](/upload/resize_cache/iblock/6b9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/nprober_iii.png)
По запросу
Количество позиционеров зондов: 8
Размеры образца (max): до 50 мм
Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ
Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Передовая высокопроизводительная нанозондовая система на базе сканирующего микроскопа для процессов изготовления полупроводниковых приборов, отладки проектов и анализа отказов. Параметр измерения электрических характеристик и локализации дефектов электрических узлов с геометрическими с разрешением - до 7 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/22e/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/tmc_stacis_quiet_island.jpg)
По запросу
Конфигурируемая комплексная система антивибрационной защиты оборудования на основе STACIS III.
![](/upload/resize_cache/iblock/a13/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/a134d129de2b4650e6ac7c0eb4bb9a41.png)
По запросу
Новейшая разработка TMC в линейке систем активной пьезоэлектрической виброзащиты. STACIS® iX - это гибридная система, которая использует комбинацию пьезоэлектрической и воздушной систем виброзащиты.