Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
8 (800) 301-13-17
+7 (495) 204-13-17

Статьи и обзоры

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
Зондовые и атомно-силовые методы для анализа отказов
В статье рассказывается об атомно-силовых методах, используемых для анализа отказов в микроэлектронике
22 Мая 2018
Микроскоп Keyence: 12 сфер применения цифрового оптического микроскопа
В статье рассказывается о сферах применения цифрового оптического микроскопа Keyence
21 Мая 2018
Электронно-ионные методы для локализации отказа
В статье рассказывается о том, как электронно-ионные методы  используются для анализа отказов в микроэлектронике
18 Апреля 2018
Неразрушающий контроль внутренних дефектов микросхемы
В статье рассказывается о том, как с помощью неразрушающего контроля исследовать внутренние дефекты микросхемы
22 Марта 2018
Обзор новинок: широкополосные рупорные антенны RFSpin
В конце 2017 года компания RFSpin представила новые  широкополосные антенны: модели антенн DRH203, QRH18, DRH67, DRH110. Публикуем краткий сравнительный анализ новых широкополосных антенн, который сделал наш инженер.
21 Марта 2018
AWG5200 Tektronix - функциональный генератор сигналов произвольной формы
В статье  рассказывается о дополнительных функциональных возможностях генератора сигналов AWG5200 Tektronix - программных модулях, расширяющих функционал прибора.
19 Марта 2018
Оптические столы для высокочувствительных применений в фотонике
В статье рассказывается о преимуществах современных оптических столов
16 Марта 2018
MILabs VECTor: платформа для комбинированных исследований ОФЭКТ/ПЭТ/OI-CT
Расширенные возможности ОФЭКТ и ПЭТ для составления полной диагностической картины: комбинированной диагностики и терапии с «обратной связью»
19 Февраля 2018
Пассивация поверхности транзисторов с помощью атомно-слоевого осаждения
Компания Picosun опубликовала отчет об эксперименте по пассивации поверхности нитридом алюминия при помощи ALD-технологии.
19 Февраля 2018
Как правильно вскрыть чип ?
В статье рассказывается о том, как правильно  вскрыть микросхему и удалить компаунд, не повреждая кристаллы
19 Февраля 2018
Электромагнитные помехи и электромагнитная совместимость
В статье рассказывается о комплексной системе для измерения кондуктивных и паразитных радиопомех
16 Февраля 2018
Обзор нового анализатора спектра эконом-класса Rohde&Schwarz® FPL1000
Анализатор спектра R&S®FPL1000 - это прибор эконом класса с диапазоном частот от 5 кГц до 3 ГГ. Прибор прост в управлении, имеет небольшой вес и может работать от батареи.
14 Февраля 2018
ОСТОРОЖНО: ФИЗИКИ ШУТЯТ-2!
Дню студента посвящается: публикуем отрывки из книги "Физики все еще шутят"
29 Января 2018
Источник постоянного тока Keithley 6220 для тестирования приборов со сверхнизкой потребляемой мощностью
В статье рассказывается, как тестировать приборы с малым уровнем потребления мощности с помощью приборов Keithley 6220 и нановольтметра Keithley 2182A.
26 Января 2018
Зачем нужен анализ отказов в микроэлектронике
В статье дается обоснование необходимости анализа отказов и рассказывается об основных методиках, применяемых в современной микроэлектронике
24 Января 2018