Пробоподготовка образцов 14-нм FinFET для исследований с помощью ПЭМ
Для проверки полевых транзисторов с вертикальным каналом типа FINFET в ПЭМ
25 декабря 2020
РЕШЕНИЯ ANAPICO ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ КВАНТОВЫХ КОМПЬЮТЕРОВ
Применение фазово-когерентных многоканальных генераторов AnaPico в тестировании квантовых компьютеров
19 октября 2020
Атомно-силовая микроскопия и микроскопы (АСМ). Часть 2
Цикл статей об атомно-силовой микроскопии и микроскопах (АСМ). Часть 2 - применение АСМ в анализе отказов
14 августа 2020
Атомно-силовая микроскопия и микроскопы (АСМ). Часть 1
Цикл статей об атомно-силовой микроскопии и микроскопах (АСМ). Часть 1 - принципы работы АСМ.
12 августа 2020
Преимущества антивибрационных изоляторов Gimbal Piston™ ТМС
Какими должны быть изоляторы в пневматических системах подавления вибраций исследовательского класса?
23 июля 2020
Как определить время наработки на отказ?
Вычисляем показатель надежности оборудования (MTBF) на примере генераторов AnaPico серии RFSGxx
20 июля 2020
Плазмохимическое осаждение пленок из газовой фазы c Minilock Orion III TRION
Компактная установка лабораторного формата с уникальным вакуумным шлюзом - прекрасное решение для опытных производств
16 июля 2020
Фотоэмиссионная микроскопия (ФЭМ/PEM)
Статья рассказывает об одном из наиболее распространенных методов локализации дефектов в электрических цепях интегральных схем (ИС)
23 июня 2020
Измерение фазовых шумов при поверке генераторов ВЧ/СВЧ диапазона
Преимущества анализаторов фазовых шумов AnaPico при измерении фазовых шумов генераторов ВЧ/СВЧ с целью поверки
09 июня 2020
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
Статья рассказывает об актуальном методе неразрушающего многоэлементного химического анализа поверхности - РФЭС (XPS).
25 мая 2020
Методы тестирования ИС, основанные на использовании оптического излучения
Анализ тока, наведенного оптическим лучом (OBIC) и изменение напряжения, индуцированное оптическим лучом (LIVA)
15 мая 2020
Тестирование усилителей мощности с помощью анализатора спектра Rohde&Schwarz FSW
R&S FSW не создает интермодуляционных искажений и позволяет обнаружить искажения от усилителя на фоне собственных шумов.
21 апреля 2020
Электронно-лучевое напыление тонких пленок
Нанесение в вакууме методом электронного-лучевого напыления на оборудовании PLASSYS MEB 550
20 апреля 2020
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ/TEM)
Незаменимый метод исследования твердых материалов при анализе отказов в микроэлектронике
10 марта 2020
Электронно-лучевое тестирование (Electron Beam Probing)
Технология регистрации временных диаграмм изменения потенциалов, присутствующих на внутренних цепях интегральных схем
19 февраля 2020