Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Статьи и обзоры

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
Что такое анализатор спектра?
Анализатор спектра - для чего предназначен, как выбрать, его принцип работы и основные характеристики.
22 Августа 2018
Недорогой портативный способ проведения испытаний на ЭМС от компании Tektronix
Современные проблемы в области проведения испытаний на ЭМС - как оптимизировать процесс испытаний и снизить затраты?
17 Августа 2018
3 полезных устройства для механического вскрытия микросхем
В нашей статье мы познакомим Вас с тремя приборами, при помощи которых можно легко удалять корпуса микросхем, изготовленных из разных типов материалов.
31 Июля 2018
TMC – надежный защитник прецизионного оборудования
В обзоре рассказывается о компании TMC - разработчике и производителе систем виброизоляции и защиты от электромагнитных помех для высокоточных исследований и производственных процессов
27 Июня 2018
Keithley DMM7510 – звезда на поле 7,5 разрядных цифровых мультиметров!
"Репортаж" наших инженеров с соревнований двух мультиметров: DMM7510 и Keysight 34470A.
26 Июня 2018
VHX6000 – фаворит среди оптических цифровых микроскопов
В данном обзоре дается краткое описаний преимуществ новой модели цифрового микроскопа VHX6000.
22 Июня 2018
Осциллограф MSO5: 6:2 в пользу Tektronix
Обзор комбинированных осциллографов средней ценовой "лиги" устами футбольного репортера
21 Июня 2018
Обзор новинок 2018 года от компании Rohde&Schwarz
В обзоре рассматриваются новые серии осциллографов R&S®RTC1000, R&S®RTM3000 и R&S®RTA4000 от компании Rohde&Schwarz
25 Мая 2018
Обзор датчиков электрического поля серии HI-6000 от ETS-Lindgren
В статье рассказывается о серии датчиков электрического поля HI-6000 ETS-Lindgren, используемых в автомобильной промышленности, MIL-STD, в коммерческих стандартах по ЭМС в части радиочастотной восприимчивости
24 Мая 2018
Нанозондирование и атомно-силовая микроскопия для анализа отказов
В статье рассказывается об атомно-силовых методах, используемых для анализа отказов в микроэлектронике
22 Мая 2018
Микроскоп Keyence: 12 сфер применения цифрового оптического микроскопа
В статье рассказывается о сферах применения цифрового оптического микроскопа Keyence
21 Мая 2018
Электронно-ионные методы для локализации отказа
В статье рассказывается о том, как электронно-ионные методы  используются для анализа отказов в микроэлектронике
18 Апреля 2018
Неразрушающий контроль внутренних дефектов микросхемы
В статье рассказывается о том, как с помощью неразрушающего контроля исследовать внутренние дефекты микросхемы
22 Марта 2018
Обзор новинок: широкополосные рупорные антенны RFSpin
В конце 2017 года компания RFSpin представила новые  широкополосные антенны: модели антенн DRH203, QRH18, DRH67, DRH110. Публикуем краткий сравнительный анализ новых широкополосных антенн, который сделал наш инженер.
21 Марта 2018
AWG5200 Tektronix - функциональный генератор сигналов произвольной формы
В статье  рассказывается о дополнительных функциональных возможностях генератора сигналов AWG5200 Tektronix - программных модулях, расширяющих функционал прибора.
19 Марта 2018