Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Статьи и обзоры

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
Источник постоянного тока Keithley 6220 для тестирования приборов со сверхнизкой потребляемой мощностью
В статье рассказывается, как тестировать приборы с малым уровнем потребления мощности с помощью приборов Keithley 6220 и нановольтметра Keithley 2182A.
26 Января 2018
Зачем нужен анализ отказов в микроэлектронике
В статье дается обоснование необходимости анализа отказов и рассказывается об основных методиках, применяемых в современной микроэлектронике
24 Января 2018
Нанесение покрытий с помощью плазмы
В плазменном покрытии наноразмерный полимерный слой формируется по всей площади поверхности объекта, помещенного в плазму. Процесс нанесения покрытия занимает всего несколько минут.
14 Декабря 2017
Бюджетный анализатор цепей
Высокая производительность, удобство пользования, малые габариты, надежность, ценовая доступность – это пять параметров, влияющие на выбор в пользу анализатора цепей серии TTR500A.
12 Декабря 2017
Micro-g® – высокопроизводительные вибрационные изоляторы TMC
TMC предлагает промышленные стандарты Gimbal Piston, MaxDamp и UltraDamp в удобном диапазоне мощностей, уровней демпфирования и выравнивания в соответствии с широким диапазоном применений.
24 Ноября 2017
Как проверить микросхему на стойкость ко внешним воздействиям
В статье рассказывается об оборудовании Riscure (Нидерланды) для проверки стойкости аппаратных средств и программного кода ко внешним воздействиям
21 Ноября 2017
РЕШЕНИЯ TEKTRONIX ДЛЯ АЭРОКОСМИЧЕСКОЙ И ОБОРОННОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ
В статье рассказывается о контрольно-измерительных приборах Tektronix, использующихся для применения в аэрокосмической и оборонной промышленностях
20 Ноября 2017
Комплексная система для анализа отказов в микроэлектронике
Фото-эмисионная установка Meridian IV является гибким инструментом для решения задач, представленных для параметрического анализа плавающих дефектов.
26 Сентября 2017
Проверка последовательности подачи питания с помощью 8- канального осциллографа
Проверка последовательности подачи питания с помощью 8- канального осциллографа
25 Сентября 2017
Технология атомно-слоевого осаждения Picosun для производства СВЧ-микроэлектроники
Picosun и Национальный университет Chiao Tung (Тайвань) начали сотрудничество по совершенствованию устройств на основе GaN.
22 Сентября 2017
Инновации в контрольно-измерительных технологиях
Производство новых осциллографов смешанных сигналов Tektronix серии 5 – взгляд из-за кулис
18 Августа 2017
Метод глубинного реактивного ионного травления
Глубокое реактивное ионное травление - метод, используемый для глубокого травления полупроводников
27 Июля 2017
Плазменная обработка композиционных материалов для аэрокосмической промышленности
Плазменная обработка полимерных и композиционных материалов имеет  преимущества в тех случаях, когда требуется выполнить очистку поверхности или соединить неоднородные поверхности.
25 Июля 2017
Генератор ВЧ и СВЧ сигналов R&S®SMA100B
R&S SMA100B - генератор сигналов, способный генерировать сигналы сверхвысокой мощности с низким содержанием шумов
24 Июля 2017
Cистема измерения электрических характеристик для ACM
ResiScope II – система, способная измерять сопротивление с высокой чувствительностью и разрешением
19 Июня 2017