ELITE- термоэмиссионный микроскоп с ИК-камерой

Термоэмиссионные микроскопы с ИК-камерой серии ELITE Thermo Fisher Scientific

Линейка термоэмиссионных микроскопов с высокочувствительной инфракрасной камерой ELITE - это эффективное решение для сквозного проектирования корпусов и обнаружения широкого диапазона электрических дефектов на кристалле микросхемы или печатной плате. Наиболее распространенные дефекты, которые возможно обнаружить с помощью термоэмиссионных микроскопов серии ELITE:

• короткое замыкание силовых или информационных линий;
• повреждение статическим электричеством (ESD);
• утечка тока;
• дефекты оксидных пленок;
• выход из строя транзисторов и диодов;
• тиристорный эффект;
• резистивный обрыв. 

Термоэмиссионные микроскопы серии ELITE - это первая полностью интегрированная система, в которой применяется динамическая неразрушающая методика LIT для 2D и 3D устройств в режиме реального времени. Системы серии ELITE показывают превосходную производительность, кратчайшие сроки получения результатов и ускоренный цикл обучения работе с системой благодаря применению передовых инструментов и технологий:

• сверхчувствительная термография высокого разрешения с технологией Lock-in (LIT);
• запатентованная сверхчувствительная ИК-камера InSb;
• тщательно подобранная оптика;
• новейшие алгоритмы работы.  

Преимущества ELITE Thermo Fisher Scientific

• передовой метод неразрушающего контроля - работа системы не требует декапсуляции, удаления корпуса микросхем и даже послойного анализа ИС. Так минимизируется риск случайной потери информации об отказе, что нередко имеет место в случае применения разрушающих методов.
• сочетание с другими неразрушающими методиками - например, со сканирующей акустической микроскопией (SAM) или 2D и 3D рентгеновскими технологиями.
• сокращение времени получения результата и локализация дефектов с точностью в мкм за счет определения точных x, y, и z координат местоположения сбойного узла - это значительно сужает область анализа рентгеновским или акустическим методами.
• высокоточная оптика позволяет быстро обнаружить сбойный компонент на монтажной плате для его аккуратного удаления.
• твердые иммерсионные линзы (SIL) и опция S-LSM -  высокий уровень разрешения и качества получаемого изображения (оснащается опционально).

Модельный ряд серии ELITE Thermo Fisher Scientific

ELITE DX

• Лучшая в своем классе термочувствительность для достижения быстрых результатов;
• Лидер по точности локализации отказов по координатам XY и Z;
• Простое и быстрое тестирование образца как с лицевой, так и с тыльной стороны;
• Применение: современные 2,5D и 3D корпуса, стандартные корпуса с проволочными соединениями и внутренними выводными рамками, отрытый кристалл и отдельные детали.

ELITE VX

• Уникальная система с высоким напряжением 10 кВ и полнофункциональным механизмом безопасности для защиты оператора и тестируемого образца;
• Потрясающая термочувствительность для быстрого получения результатов;
• Лазерная маркировка с объективом прямого видения;
• Применение: источники электропитания, биполярные транзисторы с изолированным затвором, мощные МОП-транзисторы и различные высоковольтные устройства.

ELITE Lite

Бюджетная эффективная система, основанная на передовых технологиях;
Компактный корпус с полностью интегрированным управлением;
Применение: печатные платы, дисплеи, солнечные панели и электронные модули.

Технические характеристики серии ELITE Thermo Fisher Scientific

Наименование	Описание
Разрешение в горизонтальной плоскости	до 1 мкм
Разрешение по глубине	до 20 мкм
Виды детектируемых дефектов	широкий диапазон коротких замыканий (от 2 мОм до 2 ГОм), утечки (рассеиваемая мощность ниже 1 мкВт), резистивные обрывы
Виды тестируемых устройств	Сборки печатных плат, модули, корпуса, целые пластины и их части, кристаллы
Поле зрения	макс. 200 мм x 160 мм; мин. 0,62 мм x 0,51 мм
Воздействие на тестируемое устройство	внутреннее DC электропитание; автоматическое тестовое оборудование ATE, CAN шина, тестер граничного сканирования, тестер системного уровня
Время получения результата	от минут до секунд, в зависимости от применяемой мощности и типа тестируемого образца