![](/upload/resize_cache/iblock/ba6/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/ba6c27104db69bc22b2afe8f47e3aad9.png)
По запросу
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
![Apreo 2 SEM Apreo 2 SEM](/upload/resize_cache/iblock/cfe/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/apreo_2_sem_tfs.png)
По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
По запросу
СЭМ нового поколения с высоким уровнем автоматизация процесса исследования, сокращенным в 2 раза временем анализа образца и расширенными функциями визуализации. Обладает возможностью исследовать образцы максимального размера и массы - до 10 кг!
![](/upload/resize_cache/iblock/da5/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/da5221515174d4905de520b0d18d7a15.jpg)
По запросу
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
![](/upload/resize_cache/iblock/631/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/631fe333330b29b1ce52f0ded41abb4f.jpg)
По запросу
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
![](/upload/resize_cache/iblock/518/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_preview.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
![](/upload/resize_cache/iblock/7c0/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_500.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
![](/upload/resize_cache/iblock/c2c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/snimok2.jpg)
По запросу
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/71b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quanta_650_web.jpg)
По запросу
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
![](/upload/resize_cache/iblock/0f9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/0f9531d6cd672617835a49ed14efb8f2.png)
По запросу
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/66d/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quattro_465x465.png)
По запросу
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/56a/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/explorer_4_analyzer_sem_product_image_shadow_003.png)
По запросу
Разрешение: 14 нм
Увеличение: 80x-40000x
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ/SEM) с анализатором EDX Explorer 4 можно назвать лучшим решением для операций, направленных на улучшение производственных процессов с целью повышения качества, оптимизации производственного процесса, анализа отказов и рентабельности.
Explorer 4 предоставляет полную морфологическую и химическую характеристику любого интересующего объекта – в случае потребности в быстрой и неразрушающей характеристике включений, пор или частиц.
![](/upload/resize_cache/iblock/527/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/5279662da2599a8d97dc0041d2ffabea.jpg)
По запросу
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
По запросу
Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.
В данном разделе мы представили современные сканирующие электронные микроскопы, которые возможно купить по доступной цене в городе Москва. Данные приборы предназначены для исследовательской деятельности и отличаются высокой стабильностью и удобством в работе. Компания FEI (вошла в состав Thermo Fisher Scientific) постоянно совершенствует свое оборудование, предлагая пользователям новейшие разработки в области электронной микроскопии.