Производитель:
FEI
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Цены на сайте являются информационными. Просим уточнять актуальные цены у менеджеров компании.
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
- Детальное описание
- Документация
- Оплата и доставка
Линейка микроскопов Inspect™ включает два сканирующих электронных микроскопа:
Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом
Inspect F — сканирующий электронный микроскоп с источником электронов с полевой эмиссией (автоэмиссионный катод Шоттки).
Inspect S (с вольфрамовым катодом) — имеет высокий и низкий вакуум, идеален для проведения рутинных исследований в промышленных условиях.
Inspect F (с автоэмиссионным катодом Шоттки) имеет высокий, стабильный ток пучка FEG, необходимый для проведения фундаментальных научных исследований. Прибор подходит для научных лабораторий, для исследований характеристик материалов, для проведения экспертизы и контроля качества материалов.
Линейка микроскопов Inspect™ предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Данные модели могут быть укомплектованы крио-столами для образцов, детекторам для энергодисперсионного анализа (метод энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии/ EDS/ ЭДРС), детектором для анализа по длине волны (метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны/WDS/ДРСДВ), детектором для анализа с помощью дифракции отраженных электронов (EBSD/ДОЭ).
Inspect S — сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом
Inspect F — сканирующий электронный микроскоп с источником электронов с полевой эмиссией (автоэмиссионный катод Шоттки).
Inspect S (с вольфрамовым катодом) — имеет высокий и низкий вакуум, идеален для проведения рутинных исследований в промышленных условиях.
Inspect F (с автоэмиссионным катодом Шоттки) имеет высокий, стабильный ток пучка FEG, необходимый для проведения фундаментальных научных исследований. Прибор подходит для научных лабораторий, для исследований характеристик материалов, для проведения экспертизы и контроля качества материалов.
Линейка микроскопов Inspect™ предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Данные модели могут быть укомплектованы крио-столами для образцов, детекторам для энергодисперсионного анализа (метод энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии/ EDS/ ЭДРС), детектором для анализа по длине волны (метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны/WDS/ДРСДВ), детектором для анализа с помощью дифракции отраженных электронов (EBSD/ДОЭ).
| Разрешение | Ускоряющее напряжение | Ток луча | |
| Inspect S |
• Высокий вакуум - 3.0nm at 30kV (SE) - 8.0nm at 3kV (SE) - 4.0nm at 30kV (BSE) • Низкий вакуум - 3.0nm at 30kV (SE) - 4.0nm at 30kV (BSE) - 10nm at 3kV (SE) |
200V – 30kV |
До 2μA – с плавной регулировкой |
| Inspect F |
• Высокий вакуум - 0.8nm at 30kV (STEM) * - 1.0nm at 30kV (SE) - 2.5nm at 30kV (BSE) * - 3.0nm at 1kV (SE) |
200V – 30kV |
До 2μA – с плавной регулировкой |