Prisma E SEM FEI (Thermo Fisher Scientific)

Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) - Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific

Академические и промышленные исследовательские лаборатории рассчитывают, что современный SEM должен иметь возможность получать большинство данных из самых разных образцов с отличным качеством изображения. Поскольку большинство лабораторий являются многопользовательскими объектами, простота использования имеет первостепенное значение для того, чтобы все данные были доступны для операторов различных уровней подготовки.

Преимущества

Микроскоп Prisma E SEM Thermo Fisher Scientific  -  это многофункциональный СЭМ для многоцелевых  лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой. Сканирующий электронный микроскоп Prisma E SEM обеспечивает превосходное разрешение. Также у данной модели имеются три режима работы: высокий вакуум, низкий вакуум и режим естественной среды ESEM ™. Они обеспечивают возможность исследования широкого диапазона образцов, включая образцы, которые дегазируют, не имеют напыления или не совместимы с вакуумом. Выбор детекторов (детектор направленного обратного рассеяния, STEM, катодолюминесценция и т. д.) обеспечивает всю необходимую информацию об образце. Одновременное получение и отображение сигналов детектора позволяет получить ответы в кратчайшие сроки. Кроме того, ESEM позволяет на месте исследовать образцы в реальных условиях, таких как влажные, горячие или реактивные среды. Микроскоп Prisma E SEM также имеет программное обеспечение для выполнения и управления динамическими экспериментами in-situ.

Особенности

Наличие различных детекторов (EDS, WDS, EBSD) для образцов удовлетворяет современным требованиям. Аналитическая камера микроскопа Prisma E SEM поддерживает множество детекторов EDS для увеличения пропускной способности и устранения эффектов затенения. Кроме того, аналитическая камера поддерживает копланарные EDS / EBSD и параллельный пучок WDS для обеспечения оптимального позиционирования для всех методов. Благодаря возможности проведения экспериментов in situ, надежные аналитические результаты получены даже на диэлектрических образцах или при высокой температуре.

Поскольку многопользовательские устройства требуют, чтобы все данные могли быть получены большой группой пользователей при минимальном времени обучения, простота использования имеет первостепенное значение. Prisma E поставляется с последней версией проверенного пользовательского интерфейса xT в Windows 10, который включает User Guidance - функцию помощи, которая напрямую взаимодействует с микроскопом. Он также включает в себя функцию «Undo» («Отменить»), облегчая работу начинающих пользователей, а опытные пользователи легко сокращают время для достижения необходимых результатов.

Микроскоп Prisma E SEM поддерживает предварительные настройки сканирования, легкую навигацию камеры и функцию SmartSCAN ™ для повышения производительности, качества данных и простоты использования. Для рутинной работы микроскоп Prisma E SEM может быть совмещен с ПО Autoscript, мощного инструментария для написания программ на основе Python (Питон). Эта уникальная комбинация доступной всесторонней работы с полным набором аксессуаров делает Prisma E SEM отправной точкой для исследования и анализа отказов в любой отрасли или области.

Области применения

Нанохарактеризация

In-situ характеризация

Технические характеристики

Электронная оптика

Разрешение электронного пучка

• 3.0 нм при 30 kВ (SE) 
• 4.0 нм при 30 kВ (BSE)  
• 8.0 нм при 3 kВ (SE)

Высокий вакуум опцией замедления луча: 

• 7.0 нм при 3 kВ (BD mode* + DBS*)

Низкий вакуум: 

• 3.0 нм при 30 kВ (SE) 
• 4.0 нм при 30 kВ (BSE)  
• 10 нм при 3 kВ (SE) 

Параметры электронного луча

Камера