Автоанализ (EDS/без EDS): 10000/30000 частиц в час Разрешение: 14 нм Увеличение: 80x-40000x
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ/SEM) с анализатором EDX Explorer 4 можно назвать лучшим решением для операций, направленных на улучшение производственных процессов с целью повышения качества, оптимизации производственного процесса, анализа отказов и рентабельности.
Explorer 4 предоставляет полную морфологическую и химическую характеристику любого интересующего объекта – в случае потребности в быстрой и неразрушающей характеристике включений, пор или частиц.
Titan Кrios TEM FEI — идеальный прибор для быстрого, автоматического получения
изображений большого объема, а также информации в 3-D формате о
биологических клетках с детализацией отдельных молекулярных комплексов.
Определение структуры апоферритина 3,5 Å : 24–72 часа Фиксированное ускоряющее напряжение : 100 кВ Загрузка образцов: полуавтомат Станция криоподготовки: + Устройство для переноса образцов со стационарным криобоксом: +
Просвечивающий криоэлектронный микроскоп последнего поколения для получения 3D изображений и анализа одиночных частиц (SPA) в биохимических лабораториях
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Диаметр образца: от 25 до 60 мм Детектирование данных: по 128 каналам Ионная пушка С60 : 20 кВ Диаметр рентгеновского пучка: менее 10 мкм
Передовая система с улучшенной производительностью и дополнительными техническими возможностями, важными для изучения современных материалов (технология XPS, ESCA, РФЭС)
Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.
FM-Nanoview 1000 AFM - недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства.
Высокоэффективный АСМ, отличающийся простотой в использовании, высоким разрешением и быстротой построения изображения без потери качества. Микроскоп отлично подойдет для контактных исследований шероховатости поверхности.
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
Tecnai™ с i-корректором — комбинация просвечивающего электронного и флуоресцентного микроскопов. Система позволяет исследовать биологические образцы в просвечивающем и флуоресцентном режимах одновременно, не вынимая образец из камеры.
Рентгеновская трубка: медная мишень, размер фокуса 1 x 10 мм2, мощность 2,0 кВт
Рентгеновский дифрактометр (XRD) DW-3000 имеет высокоточную систему гониометра и высокостабильную систему управления генератором рентгеновского излучения.
Рентгеновская трубка: Металлокерамическая, медная мишень, мощность 2,4 кВт, размер фокуса: 1x10 мм
Рентгеновский дифрактометр DW-27 mini Drawell - сочетание передовой технологии производства XRD с многофункциональностью и миниатюризацией. Прибор может проводить качественный анализ, количественный анализ и анализ структуры кристаллов на металлообразце и неметалле.
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.
НОВИНКА!!!
Микроскоп VR-3000 Keyence поддерживает большой спектр измерений и может быть использован как оптический профилометр и измеритель шероховатости.
