Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Увеличение: от 6 до 1,000,000× Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Quattro SEM FEI - универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
