Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм при 30 кВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD) Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод) Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
Увеличение: от 6 до 1,000,000× Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
