Соединяя
науку и технологии office@sernia.ru
8 (800) 301-13-17
+7 (495) 204-13-17

Quanta 650 (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Quanta 650 (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп
Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
  • Описание
  • Документация

Сканирующий электронный микроскоп Quanta 650 


Микроскопы QuantaTM обеспечивают полное представление о любом образце: изображения поверхностного рельефа и химсостава поверхности (Z-контраст) можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное  оборудование.
Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Quanta не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения  и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами, а не только с простыми образцами типа металлов и специально подготовленными  образцами с проводящим покрытием. Это передовое, гибкое решение для текущих и будущих научно-исследовательских применений. Микроскопы серии Quanta поддерживают три режима съемки:   в высоком вакууме, низком вакууме и в естественной среде (ESEM™) — и позволяют осуществлять сканирующую электронную микроскопию самого широкого круга образцов. С помощью этих приборов можно решать задачи по структурной характеризации как традиционных образцов металлов, сколов и шлифов, так и анализ непроводящих мягких материалов.
Микроскопы серии Quanta отличаются простым и гибким пользовательским интерфейсом, повышающим производительность и обеспечивающим возможность сбора всех необходимых данных. Созданные микроскопистами для микроскопистов, эти приборы полностью меняют представление о том, что можно считать «удобством эксплуатации». В качестве стандартных реализованы такие полезные функции, как автоматическая съемка навигационной картины при монтаже образца, управление перемещением предметного столика по двойному щелчку, перетаскивание  для масштабирования и многие другие.
В микроскопах серии Quanta реализована технология SmartSCANTM — интеллектуальный алгоритм сканирования, понижающий уровень помех и повышающий качество изображения. 
Дополнительную универсальность приборам придают новые опции, в том числе торможение пучка для эффективной работы при низких ускоряющих, система навигации по цветному изображению Nav-Cam™ и новые выдвижные детекторы.
Приобретая микроскопы серии Quanta, вы гарантируете себе высокую отдачу от инвестиций, получая возможность эффективнее и проще собирать более точные данные при работе с любыми материалами.

Ключевые преимущества

  • Исследование проводящих и непроводящих образцов во вторичных и обратноотраженных электронах во всех режимах работы;
  • Минимизация пробоподготовки; режимы низкого вакуума и естественной среды, обеспечивающие отсутствие артефактов от зарядки образца при съемке и анализе непроводящих и/или гидратированных образцов;
  • Расширение аналитических возможностей:  EDS и EBSD анализ проводящих и непроводящих образцов в высоком и низком вакууме благодаря запатентованной технологии дифференциальной откачки через линзу. Устойчивый высокий ток пучка (до 2 мкA) позволяет быстро и точно выполнять элементный анализ;
  • Динамический in situ анализ различных образцов в нативном состоянии при высоких и низких температурах в диапазоне от–165 до +1500 °C, на специальных держателях образца;
  • Возможность снимать поверхность в режиме торможения пучка для выизуализации рельефа и состава поверхности проводящих образцов;
  • Простой и интуитивно  понятный интерфейс, позволяющий даже начинающим пользователям эффективно работать с прибором.

Стандартные области применения

Наноструктурные исследования

  • Металлы и сплавы, окисление/коррозия, сколы, сварные швы, шлифы, магнитные  и сверхпроводящие материалы
  • Керамика, композитные материалы, пластмассы 
  • Плёнки/покрытия
  • Петрологические шлифы, минералы
  • Мягкие материалы: полимеры, фармацевтические препараты, фильтры, гели, ткани, растительные материалы
  • Частицы, пористые материалы, волокна

Нанопроцессы in situ

  • Гидратация/дегидратация
  • Aнализ смачивания, измерения угла смачивания 
  • Окисление/коррозия
  • Механические свойства (с нагревом или охлаждением)
  • Кристаллизация и фазовые переходы

Нанопрототипирование

  • Литография
  • EBID

Ключевые технические характеристики

Электронно-оптические

  • Высокопроизводительная термоэмиссионная колонна РЭМ с двуханодной геометрией электронной пушки 
  • Неподвижная апертура объектива для простоты эксплуатации 
  • Линза объектива 45° с дифференциальной откачкой через линзу 
  • Максимальная ширина поля зрения: 6,5 мм при аналитическом рабочем отрезке (10 мм); 11,3 мм при рабочем отрезке 25 мм 
  • Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ
  • Ток зонда: до 2 мкA, с плавной регулировкой величение: 6–1 000 000 x

Предельное разрешение

  • Высокий вакуум: 3,0 нм при 30 кВ (SE); 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*; 8,0 нм при 30 кВ (SE) 
  • Высокий вакуум с режимом торможения пучка: 7,0 нм при 3 кВ (режим BD* + vCD*) 
  • Низкий вакуум: 3,0 нм при 30 кВ (SE); 4,0 нм при 30 кВ (BSE)*; 10 нм при 30 кВ (SE) 
  • Естественная среда (ESEM): 3,0 нм при 30 кВ (SE)

Детекторы

  • Детектор вторичных электронов (SED) Эверхардта-Торнли 
  • Низковакуумный SED большого поля (LFD) 
  • Газовый SED (GSED) (используется в режиме ESEM) 
  • Высокочувствительный низковольтный SS-BSED* 
  • ИК-камера для визуализации и контроля положения образца в камере 
  • Газовый BSED (BSE-детектор для высокого давления, используется в режиме ESEM)* 
  • Направленный 4-квадрантный твердотельный BSED* (CBS и ABS режимы) 
  • Сцинтилляторный BSED/CLD* 
  • Измерение тока электронного пучка* 
  • Газовый аналитический BSED (GAD)* 
  • STEM-I, извлекаемый STEM-III детектор* Nav-Cam™ — цветная оптическая камера для навигации по образцу* 
  • Катодолюминесценция* 
  • EDS* 
  • WDS* 
  • EBSD*

Вакуумная система

  • 1 x 240 л/с турбомолекулярный насос, 1 x PVP 
  • Запатентованная дифференциальная откачка через апертуру линзы 
  • Длина пробега электронов в газе: 10 или 2 мм 
  • Возможность установки безмасляного спирального форвакуумного насоса по дополнительному заказу 
  • Вакуумная камера (высокий) < 6e-4 Па 
  • Вакуумная камера (низкий) < 10–130 Па 
  • Вакуум в режиме ESEM < 10–2600 Па 
  • Время откачки: ≤ 150 с до высокого вакуума и ≤ 270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI)
* опционально

Камера

  • 379 мм слева направо 
  • Аналитический рабочий отрезок 10 мм 
  • 10 портов 
  • Угол выхода детектора EDS: 35° по дополнительному заказу

Предметный столик

  • X-Y = 150 мм 
  • Z = 65 мм 
  • Ход по Z = 93,5 мм 
  • T = – 5°... +70° 
  • R = 360° бесконечно 
  • Воспроизводимость результатов: 2 мкм (X и Y) 
  • Эвцентрический наклон на аналитической высоте 29,3 мм 
  • Перемещение по осям x и y в плоскости наклона 
  • Торможение пучка (потенциал на образце относительно катодной линзы)*

Держатели образцов

  • Держатель для нескольких образцов 
  • Держатель для одного образца, монтируется непосредственно на предметный столик 
  • Различные держатели для пластин и специальные держатели, поставляются по отдельному заказу

Управление системой

  • Графический пользовательский интерфейс на базе Windows®, клавиатура, оптическая мышь 
  • Один/два* 19-дюймовых ЖКИ-монитора
  • Джойстик* 
  • Ручной пользовательский интерфейс*

Система обработки изображений

  • До 4096 x 3536 пикселей (~14 МП) 
  • Тип файла: TIFF (8-, 16- или 24-битный RGB), BMP или JPEG 
  • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах 
  • 4-квадранта, живое изображение 
  • Живое или статическое микширование сигналов в цвете или градациях серого 
  • Усреднение или интегрирование 256 кадров
  • Цифровая запись видеоизображения (.avi) 
  • Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение

Вспомогательное программное обеспечение

  • Технология сканирования SmartSCAN™ 
  • Автоматизированные функции навигации 
  • Программное регулирование температуры образца 
  • Последовательное получение изображений в 1–4 квадрантах с временным интервалом 
  • Функция сохранения нескольких изображений
  • Программная утилита FEI Movie Creator (создание настраиваемого .avi-видеофайла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений)
  • Функциональные возможности полнооконного изображения (размещение изображения на отдельном мониторе позволяет выводить два полноэкранных изображения, полученные от различных детекторов)

Системные опции

  • Торможение пучка 
  • Ручной пользовательский интерфейс 
  • Вспомогательный ПК (включая второй 19-дюймовый монитор) 
  • Охлаждаемый предметный столик с программно- управляемым элементом Пельтье 
  • Система WetSTEM™ с программным управлением 
  • Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением 
  • Нагреваемый до 1400 °С предметный столик с программным управлением 
  • Cryocleaner 
  • Запасная ёмкость Cryocleaner 
  • Джойстик 
  • Измеритель тока образца 
  • Программное обеспечение для дистанционного управления 
  • Видеопринтер 
  • Комплект держателей образцов 
  • Акустический кожух форвакуумного насоса 7- или 52-контактный электрический коннектор 
  • Электростатический бланк луча 
  • Монтажный комплект для WDS (спектрометрия с дисперсией по длинам волн) 
  • Монтажный комплект для спирального форвакуумного насоса 
  • Вспомогательный газовый набор (для газов вместо воды)
* опционально

Распространенное вспомогательное оборудование сторонних производителей

  • EDS 
  • WDS
  • EBSD 
  • Предметный столик для работы с крио образцами 
  • Катодолюминесценция 
  • Прибор для измерения малых токов образца 
  • Наноманипуляторы 
  • Система для литографии 
  • CAD-навигация 
  • Электрическое зондирование
  • Рамановская спектроскопия

Документация и сопровождение

  • Онлайн-справка 
  • Обучающий компакт-диск «Начало работы с Quanta» 
  • Готовность к работе с RAPID™ (поддержка дистанционной диагностики) 
  • Бесплатный доступ к онлайн-ресурсам FEI для владельцев 
  • Бесплатное членство в Клубе пользователей FEI ESEM

Программные приложения по дополнительному заказу

  • Программное обеспечение для дистанционного управления/просмотра 
  • Программное обеспечение визуального анализа 
  • Программное обеспечение доступа к веб-архиву данных 
  • Программное обеспечение для профилирования рельефа / измерения шероховатости

Гарантия и обучение

  • Гарантия 1 год 
  • Возможны курсы подготовки по дополнительным сферам применения 
  • Выбор плана сервисного обслуживания 
  • Выбор программ обучения по эксплуатации/сферам применения

Требования по установке

(более подробные сведения приводятся в руководстве по предварительной установке) 
  • Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/-1%) 
  • Потребляемая мощность: < 3,0 кВА в базовой комплектации
  • Сопротивление заземления: < 0,1 Ом 
  • Условия эксплуатации: максимальный температурный диапазон эксплуатации 15–25 °C, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением:< 100 нТ асинхронные поля 
  • < 300 нТ синхронные поля 
  • Ширина дверного проёма: 90 см 
  • Вес: консоль колонны 490 кг 
  • Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс. 10 л/мин во время вентилирования) 
  • Уровень шума: < 68 дБн (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться акустический спектр) 
  • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола ) 
  • Виброизоляционная платформа поставляется по дополнительному заказу

Энергосбережение

  • Мониторы и ПК, совместимые со стандартом Energy Star 
  • Система предназначена для эксплуатации без водяного охлаждения или сжатого воздуха