![](/upload/resize_cache/iblock/ba6/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/ba6c27104db69bc22b2afe8f47e3aad9.png)
По запросу
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
![Apreo 2 SEM Apreo 2 SEM](/upload/resize_cache/iblock/cfe/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/apreo_2_sem_tfs.png)
По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
![](/upload/resize_cache/iblock/986/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/aquilos_cryo_fib_front.jpg)
По запросу
Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это двулучевой микроскоп с возможностью заморозки образцов, который обеспечивает оптимальную подготовку проб для последующих исследований в просвечивающем микроскопе (ПЭМ/TEM) методом крио-томографии.
По запросу
СЭМ нового поколения с высоким уровнем автоматизация процесса исследования, сокращенным в 2 раза временем анализа образца и расширенными функциями визуализации. Обладает возможностью исследовать образцы максимального размера и массы - до 10 кг!
![](/upload/resize_cache/iblock/b17/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/fei_helios_g4_ux_web.jpg)
По запросу
Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.
![](/upload/resize_cache/iblock/4ef/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/4ef2ef12ac161c3dfe57edf7cf2e825f.jpg)
По запросу
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.
![](/upload/resize_cache/iblock/c5f/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/mikrotomograf_1.jpg)
По запросу
Универсальное решение в области компьютерной микротомографии (microCT) для количественного анализа, проводимого различными методами в рамках материаловедения.
![](/upload/resize_cache/iblock/da5/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/da5221515174d4905de520b0d18d7a15.jpg)
По запросу
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
По запросу
Оптическая система изоляции неисправностей для неразрушающей локализации электрических дефектов в узлах длиной менее 10 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/9bc/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/meridian_7_465.png)
По запросу
Целостная система для анализа отказов, разработанная для облегчения анализа статических и параметрических дефектов в технологиях 45 нм.
![](/upload/resize_cache/iblock/631/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/631fe333330b29b1ce52f0ded41abb4f.jpg)
По запросу
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
![](/upload/resize_cache/iblock/518/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_preview.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
![](/upload/resize_cache/iblock/7c0/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/prisma_500.png)
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
![](/upload/resize_cache/iblock/c2c/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/snimok2.jpg)
По запросу
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/71b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quanta_650_web.jpg)
По запросу
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
![](/upload/resize_cache/iblock/0f9/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/0f9531d6cd672617835a49ed14efb8f2.png)
По запросу
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/66d/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/quattro_465x465.png)
По запросу
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
![](/upload/resize_cache/iblock/b4b/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/b4b7e1c2b24fe1f88b9d871343153d65.jpg)
По запросу
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
![](/upload/resize_cache/iblock/0dd/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/f200i_web.jpg)
По запросу
Большая производительность, большая гибкость – возможность проведения более углубленных исследований в материаловедении.
![](/upload/resize_cache/iblock/5a6/370_120_140cd750bba9870f18aada2478b24840a/talos_l120c_465x_l.png)
По запросу
Обеспечивает доказанные на практике и оптимальные эксплуатационные показатели получения изображения на гибкой модульной платформе, максимально удобной в эксплуатации.