Apreo 2 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения

Apreo 2 SEM - новый сканирующий электронный микроскоп для материаловедения

Универсальный инновационный микроскоп

Apreo 2 SEM Thermo Fisher Scientific - новый инновационный сканирующий электронный микроскоп (SEM/СЭМ) с полевой эмиссией (FEG), уникальной визуализацией элементов в режиме реального времени и передовой автоматизированной оптической системой. Непревзойденные аналитические возможности нового СЭМ Apreo 2 дополняются простым и удобным процессом пробоподготовки и хорошо знакомым пользовательским интерфейсом xT, что позволяет сократить время на освоение прибора как новичкам, так и опытным пользователям.

Первый микроскоп этого типа - Thermo Scientific ™ Apreo SEM заслужил отличную репутацию за свою универсальность и высокое качество изображения даже на магнитных и других традиционно сложных образцах. Новый Apreo 2 SEM превосходит оригинал, расширяя и без того впечатляющие характеристики разрешения, а также добавляет ряд новых функций, призванных сделать расширенные возможности Apreo SEM еще более доступными.

Сканирующий электронный микроскоп Apreo 2 SEM оснащен уникальными технологиями, такими как SmartAlign, FLASH и ColorSEM, что позволяет расширить круг решаемых задач до современного исследовательского максимума и выполнять такие задачи в любой лаборатории, обеспечивая при этом продвинутые возможности визуализации для всех пользователей. Настраиваемый пользовательский интерфейс СЭМ Apreo 2 SEM предоставляет множество возможностей для управления, автоматизации и удаленной работы, что особо важно в современных реалиях.

Для заказа доступны два вида комплектации: вариант Apreo 2 C и  Apreo 2 S с различающимися возможностями разрешения.

Преимущества инновационного функционала Apreo 2 SEM

Сочетание новых технологий SmartAlign + FLASH - доступ к характеристикам высочайшего уровня. Многоцелевые лаборатории имеют широкий круг пользователей, желающих получить изображения такого широкого спектра типов образцов. Как правило, это означает, что пользователям требуется выполнить ряд настроек перед сбором данных. Apreo 2 SEM представляет технологию SmartAlign на рабочей платформе SEM, которая практически исключает необходимость юстировки пользователем. Обладая широким диапазоном автоматизации настроек, вы можете сосредоточиться на получении данных, поскольку система всегда отъюстирована и готова к визуализации. Даже при автоматической настройке обычно требуется точная юстировка луча для получения наилучшего изображения. Откройте для себя технологию FLASH, которая автоматизирует процесс точной настройки. С помощью нескольких движений мыши Apreo 2 SEM выполнит все необходимые корректировки стигматоров и фокусировки изображения, а также центрирование линз. Сочетание технологий SmartAlign и FLASH означает, что и пользователям, мало знакомым с электронной микроскопией, открыт доступ к характеристикам высочайшего уровня Apreo 2 SEM.

Интеграция технологии ColorSEM в основной пользовательский интерфейс. Набор функций Apreo 2 SEM также расширяется до аналитических возможностей за счет интеграции технологии Thermo Scientific ColorSEM в основной пользовательский интерфейс микроскопа. Thermo Scientific ColorSEM объединяет композиционное отображение поверхности образца с традиционными возможностями визуализации SEM. Результатом работы ColorSEM является мгновенное цветное изображение, демонстрирующее микроструктурные детали, с высокой точностью совмещенные с информацией об элементном составе. Технология ColorSEM сокращает время на сбор базовых данных EDS и делает переход к ключевым интересующим областям очень быстрым. Информация в цвете в режиме реального времени дополняется традиционными функциями EDS (сканирование в точке, сканирование по линии, элементное картирование и создание отчетов), интегрированными непосредственно в основной пользовательский интерфейс. В результате вы получаете простую в использовании систему, которая позволяет вам сосредоточиться на исследовании, а не на манипуляции несколькими программными пакетами.

Внутриколонная система детектирования Trinity с улучшенными характеристиками. В микроскопе, как и ранее на Apreo SEM, присутствует уникальная внутриколонная система детектирования Trinity, но теперь с улучшенными характеристиками. Apreo 2 SEM остается рабочей платформой для исследований наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств благодаря своей инновационной конструкции финальной линзы, позволяющей сохранять высокие характеристики визуализации даже при работе с магнитными образцами. Электростатическая финальная линза (как для Apreo 2 C, так и для Apreo 2 S) обеспечивает одновременное детектирование высокого разрешения внутри колонны, в то время как Apreo 2 S SEM объединяет в составную линзу электростатическую финальную линзу и магнитную иммерсию. Комбинированная финальная линза повышает разрешающую способность, обеспечивая разрешение 0,9 нм при 1 кВ даже без дополнительного замедления луча и предлагая уникальные возможности для фильтрации сигнала.

Детектор обратно-отраженных электронов (BSE) T1 - максимальное быстродействие. Apreo 2 SEM обеспечивает сбор данных за минимально возможное время с помощью встроенного в линзу детектора обратно-отраженных электронов (BSE) T1, расположенного близко к образцу для получения сигнала максимальной интенсивности. В отличие от других BSE-детекторов, этот быстродействующий детектор позволяет получить композиционный контраст в любой момент, даже при навигации, под наклоном или на коротких рабочих расстояниях. На чувствительных к излучению образцах детектор обеспечивает четкие изображения в BSE при токах всего в несколько пА. Комбинированная финальная линза на Apreo 2 S SEM ещё больше расширяет возможности детектора T1 BSE за счет фильтрации энергии, тем самым исключая накопление заряда на поверхности образца, что обеспечивает более точный контраст материалов, а также получение изображений непроводящих образцов.

Широчайший набор функций для работы с непроводящими образцами в высоком вакууме. Каждый Apreo 2 SEM стандартно поставляется с широчайшим набором функций для работы с непроводящими образцами в высоком вакууме, включая такие методы, как режим SmartScan, интеграция кадров с компенсацией дрейфа (DCFI) и фильтрация заряда. Дополнительно Apreo 2 S SEM получил режим PivotBeam – интегрированную процедуру создания шаблона формирования каналов выбранной области (SACP) для ориентации материалов, основанного на кристаллографии. Режим PivotBeam полностью автоматизирован и доступен по щелчку мыши.

Вакуумная камера с 3 портами EDS/WDS. Кроме того, Apreo 2 SEM стандартно поставляется с вакуумной камерой, имеющей три порта EDS/WDS для быстрых и высокочувствительных рентгеновских измерений. Она имеет копланарное расположение EDS/EBSD/TKD и совместима с (крио) CL, Raman, EBIC и другими методами анализа.

Режим низкого вакуума (опционально). Для решения наиболее сложных задач по снижению заряда поверхности любого образца Apreo 2 SEM может включать опциональный режим низкого вакуума (до 500 Па) и, благодаря проверенной на практике дифференциальной откачке через линзу и специализированным низковакуумным детекторам LoVac, обеспечивать превосходное разрешение и большие аналитические токи. Apreo 2 S SEM с опцией низкого вакуума (Low Vac) теперь стандартно поставляется с автоматизированной процедурой вставки и удаления апертуры ограничения давления (PLA). Это позволяет вам сосредоточиться на выборе правильных условий для визуализации, а не на ручной настройке системы для получения качественных изображений в низком вакууме. 

Простой и понятный пользовательский интерфейс. Все эти возможности дополняются простой пробоподготовкой и хорошо знакомым пользовательским интерфейсом xT, что позволяет сократить время на освоение прибора как новичкам, так и опытным пользователям. Настраиваемый пользовательский интерфейс предоставляет множество возможностей для управления, автоматизации и удаленной работы. Благодаря оснащению и без того инновационного микроскопа уникальными технологиями, такими как SmartAlign, FLASH и ColorSEM, Apreo 2 SEM позволяет расширить круг решаемых задач для любой лаборатории, обеспечивая при этом расширенные возможности визуализации для всех пользователей.

Особенности конструкции Apreo 2 SEM

Электронная оптика

- высокостабильная автоэмиссионная пушка типа Шоттки для обеспечения стабильных аналитических токов с высоким разрешением;
- комбинированная финальная линза, состоящая из электростатической, широкопольной магнитной и иммерсионной магнитной линз*;
- геометрия линзы объектива 60° позволяет наклонять более крупные образцы;
- автоматизированные апертуры с подогревом для обеспечения их чистоты и бесконтактной смены.

Разрешение электронного луча

Модель	Apreo 2 C	Apreo 2 S
Финальная линза	Электростатическая	Комбинированная
Высокий вакуум
30 кВ (STEM)	0.7 нм	0.7 нм
15 кВ (BD)	0.9 нм	0.5 нм
15 кВ (6.4 нА, WD 10 мм)		1.9 нм
1 кВ	1.2 нм	0.9 нм
1 кВ (BD)	1.0 нм	0.8 нм
1 кВ (BD, WD 10 мм)		1.0 нм
500 В (BD)	1.2 нм	0.8 нм
200 В (BD)		1.2 нм
Низкий вакуум*
3 кВ (30 Па)	1.8 нм	1.8 нм
15 кВ (30 Па)	1.2 нм	1.2 нм

Документация

Гарантия и обучение

Инсталляционные требования

Питание:

Сопротивление заземления <0.1 Ом

Окружающая среда:

Минимальные размеры дверного проема: 0.9 м (ширина) × 1.9 м (высота)

Вес: колонна-консоль 980 кг

Для продувки рекомендуется сухой азот

Сжатый воздух 4–6 бар, чистый, сухой и без масла

Чиллер для охлаждения системы

Требуется обследование участка на соответствие аккустическим требованиям

Требуется обследование участка на соответствие требованиям к магнитным полям

Требуется обследование участка на соответствие требованиям к механическим вибрациям

Опционально можно рассмотреть возможность системы погашения помех

Расходные материалы

Замена источника электронов (Шоттки)