Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204-13-17
8 (800) 301-13-17

Aquilos Cryo-FIB DualBeam (FEI) - электронно-ионный микроскоп Thermo Fisher Scientific (двухлучевой)

Цена: По запросу
Производитель: FEI Flag
Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это двулучевой микроскоп с возможностью заморозки образцов, который обеспечивает оптимальную подготовку проб для последующих исследований в просвечивающем микроскопе (ПЭМ/TEM) методом крио-томографии.
Скачать документацию Задать вопрос
  • Описание
  • Документация

Электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп с крио-возможностями

Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это электронный двулучевой микроскоп, предназначенный для изготовления ламелей с целью их последующего исследования в ПЭМ (TEM) методом крио-томографии. Фокусированный ионный пучок микроскопа Aquilos ™ Cryo-FIB (Thermo Scientific ™) позволяет точно контролировать толщину образца и изготавливать ламели для криотомографии in situ. Микроскоп имеет встроенный, вращающийся крио-столик и крио-систему, которая защищает замороженные гидратированные образцы от загрязнения, гарантируя, что тонкие образцы  будут храниться при низкой температуре (<-170 ° C) в любое время.

Возможность подключения микроскопа к автозагрузчикам в ПЭМ (TEM)

Микроскоп Aquilos Cryo-FIB специально разработан для обеспечения рабочего процесса криотомографии. Полный процесс исследования включает систему для заморозки - Vitrobot™Thermo Scientific с устройством переноса образца в камеру микроскопа; специальное программное обеспечение Thermo Scientific Maps ™ для обеспечения переноса данных со светового микроскопа, фокусировки, расчета области травления в электронно-ионном микроскопе и последующей передачи образца в электронный просвечивающий микроскоп, типа микроскопа  Krios ™ Thermo Scientific (Сryo-TEM).

Предотвращение заряда поверхности биологических объектов

Выдвижная система напыления встроена в камеру микроскопа, что позволяет наносить наноразмерный тонкий неорганический слой платины на замороженные ламели. Встроенное устройство для напыления незаряжающегося слоя обеспечивает в целом эффективную работу, так как нет необходимости переносить образец, после охлаждения на внешнее устройство для нанесения покрытия вне камеры микроскопа. Покрытие, нанесенное на крио-ламели помогает решить проблему с образцами из заряжающихся материалов во время крио-томографии. В частности, заряжающийся образец может затруднить получение томографического изображения при использовании фазовой решетки Volta. Управление  нанесением покрытий  встроено в крио-специализированное программное обеспечение Aquilos.

Корреляция различных методов визуализации

Aquilos Cryo-FIB использует программное обеспечение Maps для обеспечения корреляционного наложения  данных, полученных со всех видов микроскопов: светового микроскопа,  электронно-ионного микроскопа и просвечивающего микроскопа. Программное обеспечение Maps облегчает корреляционную идентификацию интересующих объектов и последующий фокусировки и травления с помощью Aquilos Cryo FIB . Программное обеспечение может импортировать более 120 различных форматов изображений в активный проект, что позволяет дополнительно исследовать световые микроскопические данные с использованием фокусированного ионного луча / сканирующего электронного микроскопа (FIB / SEM) или  ПЭМ (TEM).

Гибкость и простота использования

Aquilos Cryo-FIB помогает пользователю при подготовке криоламелей, предоставляя специализированное программное обеспечение и простые в использовании процедуры настройки и выравнивания. Эта поддержка позволяет пользователям быстро ознакомиться с системой и ускорить процесс подготовки крио-образцов и изготовление ламелей.

Основные преимущества электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB

  • Изготовление ламелей для крио-томографии с использованием автозагрузчика ТЕМ: Комплекс аппаратных решений внутри камеры обеспечивает оптимальные условия для пробоподготовки – возможность загрязнения образца минимальна, а повреждения и потеря корреляционной точности невозможны т.к. образец не выгружается;

  • Создание тонких ламелей без артефактов: Травление ионным пучком позволяет создавать безсъемные криогенные образцы для томографии, а также исключает механическое повреждение образца, которое может иметь место при использовании ультрамикротома.

  • Высокая точность подготовки образцов: Используется программное обеспечение с простым и понятным пользовательским интерфейсом с корреляционным ПО Maps. Оно позволяет использовать Aquilos Cryo-FIB даже неопытным пользователям.

Ключевые функции электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB

  • Полная инфраструктура криосистемы, включающая: жидкий азот с большой емкостью Dewar для увеличения времени автономной работы, теплообменник, контроллер потока, систему блокировки нагрузки, станцию подготовки образца, контроллер и устройство передачи;
  • Полностью вращающиеся крио-столик для образцов для хранения при низких температурах (<-170 ° C) в любое время;
  • Специальные держатели образцов, предназначенные для травления с малыми углами (Autogrids) и их можно погрузить в автозагрузчик;
  • Встроенная выдвижная система напыления для нанесения проводящих покрытий;
  • GIS- система для нанесения защитных покрытий;
  • Включает комплект расходных материалов для крио-FIB: (Autogrid, C-Clips и Cry-FIB Autogrids);
  • Программное обеспечение для наложения изображений и фокусировки.

Электронно-ионный микроскоп Aquilos Cryo-FIB включает:

  • Электронная колонна
  • Trinity Detection System
  • Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли SE Detector (ETD)
  • Ионная колонна
  • Рабочая станция с ЖК-мониторами Windows® 7 + 2 x 24 дюйма
  • Поддерживающий компьютер + 1 x 24-дюймовый ЖК-монитор
  • Большая платформа
  • Мультифункциональная контрольная панель (MUI)
  • Программное обеспечение
  • 110 × 110 mm эвцентрический столик
  • ИК-камера для просмотра образца и камеры
  • Внутрикамерная камера для навигации Thermo Scientific Nav-Cam ™
  • Безмасляная насосная система
  • Измерение тока пучка
  • Автоматизированая система аппертуры.

Технические характеристики электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB

Электронная оптика

  • Высокостабильный катод Шоттки
  • Минимальный срок службы катода: 12 месяцев
  • Простая установка и обслуживание электронной пушки: автоматический отжиг, автостарт и никакой механической настройки
  • Постоянный контроль тока пучка и оптимизированный угол диафрагм
  • Двойное отклонение столика при сканировании
  • Двойная объективная линца, сочетающая электромагнитную и электростатическую линзы
  • Программная помощь в настройке и возможность сохранения предварительных настроек
  • Ток пучка: 1.5 пА - 400 нА
  • Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В - 30 кВ
  • Разрешение на эуцентрическом рабочем растоянии: 6 нм на 2 кВ

Ионная оптика

  • Срок службы источника: 1300 часов
  • Напряжение: 500 В - 30 кВ
  • Ток пучка: 1.5 пА - 65 нА (15 шагов)
  • Режим подавления дрейфа по умолчанию для непроводящих образцов
  • Разрешение: 7.0 нм на 30 кВ

Вакуумная система

  • Полностью безмаслянная вакуумная система в микроскопе
  • 1× турбомолекулярный насос с турборегулятором, 240 л/с
  • 1× спиральный насос
  • 3× геттеро-ионных насоса, 25 л/с
  • Дополнительный роторный насос для теплообменника
  • Сухой мембранный насос для станции криоподготовки
  • Вакуум в камере с образцом при комнатной температуре: <4e-4 Па
  • Вакуум в камере в криоусловиях: <6e-5 Па

Крио-столик

  • Фиксированный вращающийся криостолик
  • Вращение: 360° (не ограничено)
  • Вращение и наклон относительно точки эвцентрика
  • Время, необходимое для полного охлаждения: <30 минут
  • Рабочий диапазон по осям XY: 110 мм
  • Рабочий диапазон по оси Z: 65 мм
  • Диапазон наклона в крио-режиме (эуцентрическое рабочее расстояние): от -15° до +55°

Процесс получения изображений

  • Диапазон выдержки от 25 нс до 25 мс/пикселей
  • Разрешение до 6144 × 4096 пикселов (до 64k с использованием ПО Maps)
  • Тип файлов: TIFF (8, 16, 24-бит), BMP или JPEG
  • Вращение при электронном сканировании: 360° градусов
  • Система Thermo Scientic SmartSCANTM (усреднение или интегрирование по 256 кадрам)
  • DCFI – режим сканирования для компенсации дрейфа(Drift Compensated Frame Integration)

Системный контроль

  • 64-бит Windows 7, клавиатура, оптическая мышь
  • До четырех изображений разных пучков или сигналов в реальном времени
  • Поддержка местных языков: обратитесь к местным представителям Thermo Fisher Scientific для получения доступных языковых пакетов
  • 3 × 24-дюймовых широкоэкранных монитора с разрешением 1920×1200 пикселей
  • Мультифункциональная контрольная панель (MUI)

Программное обеспечение

  • Программное обеспечение Maps 3 (импорт более 120 форматов изображений, до 64k × 64k), корреляция данных LM и SEM (программное обеспечение помогает в вычислении эвцентрической позиции для фрезерования и быстрого извлечения образца)
  • Концепция графического интерфейса “Beam per view”, суть которой заключается в наличии четырех активных квадрнатов с разными данными одновременно
  • ПО Thermo Scientic SPITM (одновременное травление ионным пучком с контролем изображения в SEM)
  • ПО Thermo Scienti c iSPITM (последовательная съемка в SEM и травление ионным пучком FIB)
  • ПО Thermo Scienti c iRTMTM software (Интегрированный мониторинг в реальном времени) и режимы иммерсии FIB для расширенного мониторинга и конечной точки SEM и FIB в режиме реального времени
  • Поддерживаемые паттерны: прямоугольник, линия, круг, очистка, поперечное сечение, регулярное поперечное сечение, многоугольник, растровое изображение, потоковый файл, зоны исключения, массивы
  • Навигация по образцу на оптическом изображении
  • Функции Undo / Redo (Отмена / Повтор)
  • Руководство пользователя для большинства общих операций и приложений системы DualBeam.



Похожие товары
Обратите внимание на похожие модели и аналоги, как альтернативу вашему выбору.