Электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп с крио-возможностями
Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это электронный двулучевой микроскоп, предназначенный для изготовления ламелей с целью их последующего исследования в ПЭМ (TEM) методом крио-томографии. Фокусированный ионный пучок микроскопа Aquilos ™ Cryo-FIB (Thermo Scientific ™) позволяет точно контролировать толщину образца и изготавливать ламели для криотомографии in situ. Микроскоп имеет встроенный, вращающийся крио-столик и крио-систему, которая защищает замороженные гидратированные образцы от загрязнения, гарантируя, что тонкие образцы будут храниться при низкой температуре (<-170 ° C) в любое время.
Возможность подключения микроскопа к автозагрузчикам в ПЭМ (TEM)
Микроскоп Aquilos Cryo-FIB специально разработан для обеспечения рабочего процесса криотомографии. Полный процесс исследования включает систему для заморозки - Vitrobot™Thermo Scientific с устройством переноса образца в камеру микроскопа; специальное программное обеспечение Thermo Scientific Maps ™ для обеспечения переноса данных со светового микроскопа, фокусировки, расчета области травления в электронно-ионном микроскопе и последующей передачи образца в электронный просвечивающий микроскоп, типа микроскопа Krios ™ Thermo Scientific (Сryo-TEM).
Предотвращение заряда поверхности биологических объектов
Выдвижная система напыления встроена в камеру микроскопа, что позволяет наносить наноразмерный тонкий неорганический слой платины на замороженные ламели. Встроенное устройство для напыления незаряжающегося слоя обеспечивает в целом эффективную работу, так как нет необходимости переносить образец, после охлаждения на внешнее устройство для нанесения покрытия вне камеры микроскопа. Покрытие, нанесенное на крио-ламели помогает решить проблему с образцами из заряжающихся материалов во время крио-томографии. В частности, заряжающийся образец может затруднить получение томографического изображения при использовании фазовой решетки Volta. Управление нанесением покрытий встроено в крио-специализированное программное обеспечение Aquilos.
Корреляция различных методов визуализации
Aquilos Cryo-FIB использует программное обеспечение Maps для обеспечения корреляционного наложения данных, полученных со всех видов микроскопов: светового микроскопа, электронно-ионного микроскопа и просвечивающего микроскопа. Программное обеспечение Maps облегчает корреляционную идентификацию интересующих объектов и последующий фокусировки и травления с помощью Aquilos Cryo FIB . Программное обеспечение может импортировать более 120 различных форматов изображений в активный проект, что позволяет дополнительно исследовать световые микроскопические данные с использованием фокусированного ионного луча / сканирующего электронного микроскопа (FIB / SEM) или ПЭМ (TEM).
Гибкость и простота использования
Aquilos Cryo-FIB помогает пользователю при подготовке криоламелей, предоставляя специализированное программное обеспечение и простые в использовании процедуры настройки и выравнивания. Эта поддержка позволяет пользователям быстро ознакомиться с системой и ускорить процесс подготовки крио-образцов и изготовление ламелей.
Основные преимущества электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB
-
Изготовление ламелей для крио-томографии с использованием автозагрузчика ТЕМ: Комплекс аппаратных решений внутри камеры обеспечивает оптимальные условия для пробоподготовки – возможность загрязнения образца минимальна, а повреждения и потеря корреляционной точности невозможны т.к. образец не выгружается;
-
Создание тонких ламелей без артефактов: Травление ионным пучком позволяет создавать безсъемные криогенные образцы для томографии, а также исключает механическое повреждение образца, которое может иметь место при использовании ультрамикротома.
-
Высокая точность подготовки образцов: Используется программное обеспечение с простым и понятным пользовательским интерфейсом с корреляционным ПО Maps. Оно позволяет использовать Aquilos Cryo-FIB даже неопытным пользователям.
Ключевые функции электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB
- Полная инфраструктура криосистемы, включающая: жидкий азот с большой емкостью Dewar для увеличения времени автономной работы, теплообменник, контроллер потока, систему блокировки нагрузки, станцию подготовки образца, контроллер и устройство передачи;
- Полностью вращающиеся крио-столик для образцов для хранения при низких температурах (<-170 ° C) в любое время;
- Специальные держатели образцов, предназначенные для травления с малыми углами (Autogrids) и их можно погрузить в автозагрузчик;
- Встроенная выдвижная система напыления для нанесения проводящих покрытий;
- GIS- система для нанесения защитных покрытий;
- Включает комплект расходных материалов для крио-FIB: (Autogrid, C-Clips и Cry-FIB Autogrids);
- Программное обеспечение для наложения изображений и фокусировки.
Электронно-ионный микроскоп Aquilos Cryo-FIB включает:
- Электронная колонна
- Trinity Detection System
- Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли SE Detector (ETD)
- Ионная колонна
- Рабочая станция с ЖК-мониторами Windows® 7 + 2 x 24 дюйма
- Поддерживающий компьютер + 1 x 24-дюймовый ЖК-монитор
- Большая платформа
- Мультифункциональная контрольная панель (MUI)
- Программное обеспечение
- 110 × 110 mm эвцентрический столик
- ИК-камера для просмотра образца и камеры
- Внутрикамерная камера для навигации Thermo Scientific Nav-Cam ™
- Безмасляная насосная система
- Измерение тока пучка
- Автоматизированая система аппертуры.
Технические характеристики электронно-ионного микроскопа Aquilos Cryo-FIB
Электронная оптика
- Высокостабильный катод Шоттки
- Минимальный срок службы катода: 12 месяцев
- Простая установка и обслуживание электронной пушки: автоматический отжиг, автостарт и никакой механической настройки
- Постоянный контроль тока пучка и оптимизированный угол диафрагм
- Двойное отклонение столика при сканировании
- Двойная объективная линца, сочетающая электромагнитную и электростатическую линзы
- Программная помощь в настройке и возможность сохранения предварительных настроек
- Ток пучка: 1.5 пА - 400 нА
- Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В - 30 кВ
- Разрешение на эуцентрическом рабочем растоянии: 6 нм на 2 кВ
Ионная оптика
- Срок службы источника: 1300 часов
- Напряжение: 500 В - 30 кВ
- Ток пучка: 1.5 пА - 65 нА (15 шагов)
- Режим подавления дрейфа по умолчанию для непроводящих образцов
- Разрешение: 7.0 нм на 30 кВ
Вакуумная система
- Полностью безмаслянная вакуумная система в микроскопе
- 1× турбомолекулярный насос с турборегулятором, 240 л/с
- 1× спиральный насос
- 3× геттеро-ионных насоса, 25 л/с
- Дополнительный роторный насос для теплообменника
- Сухой мембранный насос для станции криоподготовки
- Вакуум в камере с образцом при комнатной температуре: <4e-4 Па
- Вакуум в камере в криоусловиях: <6e-5 Па
Крио-столик
- Фиксированный вращающийся криостолик
- Вращение: 360° (не ограничено)
- Вращение и наклон относительно точки эвцентрика
- Время, необходимое для полного охлаждения: <30 минут
- Рабочий диапазон по осям XY: 110 мм
- Рабочий диапазон по оси Z: 65 мм
- Диапазон наклона в крио-режиме (эуцентрическое рабочее расстояние): от -15° до +55°
Процесс получения изображений
- Диапазон выдержки от 25 нс до 25 мс/пикселей
- Разрешение до 6144 × 4096 пикселов (до 64k с использованием ПО Maps)
- Тип файлов: TIFF (8, 16, 24-бит), BMP или JPEG
- Вращение при электронном сканировании: 360° градусов
- Система Thermo Scientic SmartSCANTM (усреднение или интегрирование по 256 кадрам)
- DCFI – режим сканирования для компенсации дрейфа(Drift Compensated Frame Integration)
Системный контроль
- 64-бит Windows 7, клавиатура, оптическая мышь
- До четырех изображений разных пучков или сигналов в реальном времени
- Поддержка местных языков: обратитесь к местным представителям Thermo Fisher Scientific для получения доступных языковых пакетов
- 3 × 24-дюймовых широкоэкранных монитора с разрешением 1920×1200 пикселей
- Мультифункциональная контрольная панель (MUI)
Программное обеспечение
- Программное обеспечение Maps 3 (импорт более 120 форматов изображений, до 64k × 64k), корреляция данных LM и SEM (программное обеспечение помогает в вычислении эвцентрической позиции для фрезерования и быстрого извлечения образца)
- Концепция графического интерфейса “Beam per view”, суть которой заключается в наличии четырех активных квадрнатов с разными данными одновременно
- ПО Thermo Scientic SPITM (одновременное травление ионным пучком с контролем изображения в SEM)
- ПО Thermo Scienti c iSPITM (последовательная съемка в SEM и травление ионным пучком FIB)
- ПО Thermo Scienti c iRTMTM software (Интегрированный мониторинг в реальном времени) и режимы иммерсии FIB для расширенного мониторинга и конечной точки SEM и FIB в режиме реального времени
- Поддерживаемые паттерны: прямоугольник, линия, круг, очистка, поперечное сечение, регулярное поперечное сечение, многоугольник, растровое изображение, потоковый файл, зоны исключения, массивы
- Навигация по образцу на оптическом изображении
- Функции Undo / Redo (Отмена / Повтор)
- Руководство пользователя для большинства общих операций и приложений системы DualBeam.
Заказ товаров
Сделать заказ товара можно несколькими способами:
- Отправьте запрос на сайте через кнопку «ОТПРАВИТЬ ЗАПРОС НА КП» или «ЗАДАТЬ ВОПРОС»;
- Отправьте запрос на e-mail: info@sernia.ru с указанием конкретного товара или технических характеристик возможного прибора;
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный для регионов). Секретарь соединит Вас с менеджером, который поможет сделать заказ.
Оплата товара
Оплата товара производится только по безналичному расчету. Цены в счете указываются с НДС. Условия оплаты: 100% предоплата или 50/50% (предварительно обговариваются с клиентом, зависят от условий поставки товаров).
Доставка товара
Сроки поставки товара обговариваются на этапе заказа товара. Доставка мелкогабаритного товара в пределах Москвы осуществляется собственной курьерской службой. Сроки доставки товаров из наличия - 2-3 дня после оплаты товара.
Доставка товара в регионы осуществляется службой MAJOR EXRESS. Отследить доставку товара можно по номеру накладной на сайте компании.
