пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

EXpress Aspex FEI - настольный сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом

Производитель:
Aspex Flag
Настольный сканирующий электронный микроскоп EXpress ASPEX (FEI) с энергодисперсионным анализом 
Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Цены на сайте являются информационными. Просим уточнять актуальные цены у менеджеров компании.
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
В наличии: 2 шт
  • Детальное описание
  • Документация
  • Оплата и доставка
Автоматизированный настольный сканирующий микроскоп с микроанализом (EDХ), отличающийся простотой и удобством в эксплуатации.
Эта бюджетная модель электронного сканирующего микроскопа предназначена для производственных лабораторий. При небольших габаритах и доступной цене является полноценным электронным микроскопом, неприхотливым к производственным условиям. При этом обладает встроенной функцией EDX-анализа.

Особенности и преимущества:

  • увеличение 25х – 25000х
  • малые размеры и компактность
  • высокая защищенность от факторов внешней среды
  • простота использования и обслуживания
  • исследование большого количества образцов в одном цикле работы
  • высокая производительность
  • интеграция EDX-анализа
  • автоматизация рутинных процессов 

Применяется для анализа частиц в таких областях как:

  • контроль качества материалов
  • металловедение
  • фармацевтика
  • авиастроение
Технические характеристики: 
Диапазон определяемых частиц 100нм – 5мм
Max разрешение 25 нм
Детекторы твердотельный BSED, SDD EDX
Рентгеновский анализ встроенный
Ускоряющее напряжение 5 кВ - 20 кВ
Вакуумная система высокий вакуум и фиксированный вакуум
Диапазон давления 0.15 & 0.3 Torr
Разрешение по энергии 133 эВ
Рентгеновский энергодисперсионный анализ встроенный
Максимальный размер образца
(диаметр*толщина)
150 мм * 35 мм
Способ перемещения столика моторизованный
Диапазон перемещения столика 80мм x 100мм
Определяемый диапазон элементов от бора до урана
Автоматический анализ частиц (ПО) опционально
База данных элементов (ПО) опционально
Простой количественный анализ (ПО) опционально
Картирование ПО) опционально