По запросу
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
По запросу
Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом
По запросу
Настольный сканирующий электронный микроскоп EXpress ASPEX (FEI) с энергодисперсионным анализом
По запросу
Загрузка пластин: 300 мм
Производительность при толщине 25 нм: 4 ламели / час
Высокопроизводительная система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин.
По запросу
EXtreme ASPEX (FEI) — мобильный сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом для проведения исследования в полевых условиях
По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga.
По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для анализа отказов
По запросу
Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.
По запросу
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.
По запросу
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
По запросу
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
По запросу
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
По запросу
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.
По запросу
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
По запросу
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
По запросу
Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ
Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ
Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА
В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
По запросу
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Компания «Sernia Инжиниринг» предлагает купить электронный микроскоп в Москве, Санкт-Петербурге и с доставкой в другие регионы России. Это исследовательское оборудование мирового уровня от таких производителей, как FEI, Thermo Fisher Scientific, Aspex, Physical Electronics (PHI), CSInstruments, Keyence, EOC (Excellent Optical Solutions Company). Все приборы новые, сертифицированные и на них действуют гарантии.
Преимущества
Электронный микроскоп – оборудование, в котором вместо классического окуляра используется цифровая камера. Они подключаются к монитору ПК, на который и выводятся результаты исследований в режиме реального времени.
К преимуществам оборудования относят:
- Простота обмена и передачи данных между сотрудниками через локальные сети компании. Результатами исследований можно делиться так же, как и другой рабочей информацией.
- Удобство работы. Образцы больше на надо рассматривать в окуляр, напрягая зрение, спину. Рабочее место становится более комфортным.
- Высокая степень увеличения. Электронные микроскопы устроены так, что способны автоматически определять требуемое увеличение, основываясь на размерах монитора ПК.
- Высокая точность и четкость картинки. Изображение в приборах проецируется прямо на камеру. Можно использовать такие опции, как антиблик (уменьшает ореолы), расширенный динамический диапазон (улучшает глубину цвета, контраст) и пр.
- Возможность сохранять изображения. Их, как и любу другую информацию, можно хранить на жестком или съемном диске, извлекая в нужный момент времени для анализа.
- Простое управление. Оно намного проще, чем в классических оптических моделях. Не требуется особых навыков для работы.
- Возможность использовать специализированное программное обеспечение для выполнения более объемных исследований.
Сферы применения
Профессиональные электронные микроскопы – эффективная электроника для измерения, анализа и контроля изделий любых размеров. Широкое применение они получили в научно-исследовательской области, криминалистике, медицине, на промышленных предприятиях, в машиностроении, материаловедении и пр. С их помощью выполняют:
- мелкий ремонт наручных часов, ювелирных изделий;
- контроль качества сварных, проводных соединений, штыревых разъемов;
- анализ ценных бумаг, исторических документов, проверку подлинности;
- анализ качества лакокрасочного покрытия транспортных средств;
- полевые исследовательские работы с области палеонтологии, археологии;
- реконструкцию картин и других предметов искусства и пр.
Если потребуются дополнительные консультации и помощь в выборе электронного микроскопа, обращайтесь к специалистам компании «Sernia Инжиниринг» по телефону или через онлайн-сервисы связи.