По запросу
Предел разрешения ПЭМ: от ≤ 0,23 нм до ≤ 0,34 нм
Разрешение STEM (опция): < 0.23 нм
Просвечивающий криоэлектронный микроскоп - быстрое, эффективное и точное получение трехмерных макромолекулярных структур в высоком разрешении.
По запросу
Большая производительность, большая гибкость – возможность проведения более углубленных исследований в материаловедении.
По запросу
FEI Talos™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп нового поколения, разработанный с целью предоставить исследователю возможность быстро получать информацию об объектах в форматах 2D и 3D.
По запросу
СПЭМ-разрешение: 60-164 пм
Разброс по энергии: 0,2–0,3 эВ / 0,8 эВ
Высокопроизводительное формирование изображений с субангстремным разрешением для двухмерного и трёхмерного анализа на атомарном уровне
Информационный предел: | 60-110 пм |
СПЭМ-разрешение: | 60-164 пм |
Разброс по энергии: | 0,2-0,3 эВ/0,8 эВ |
По запросу
Titan Кrios TEM FEI — идеальный прибор для быстрого, автоматического получения изображений большого объема, а также информации в 3-D формате о биологических клетках с детализацией отдельных молекулярных комплексов.
По запросу
Фиксированное ускоряющее напряжение : 100 кВ
Загрузка образцов: полуавтомат
Станция криоподготовки: +
Устройство для переноса образцов со стационарным криобоксом: +
Просвечивающий криоэлектронный микроскоп последнего поколения для получения 3D изображений и анализа одиночных частиц (SPA) в биохимических лабораториях
По запросу
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
По запросу
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
По запросу
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
По запросу
Vion Plasma FIB — система с фокусированным ионным пучком (ФИП/FIB) FEI
По запросу
Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.
По запросу
Новинка!!!
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
По запросу
Tecnai™ с i-корректором — комбинация просвечивающего электронного и флуоресцентного микроскопов. Система позволяет исследовать биологические образцы в просвечивающем и флуоресцентном режимах одновременно, не вынимая образец из камеры.
По запросу
Новинка!!!
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.
По запросу
НОВИНКА!!!
Микроскоп VR-3000 Keyence поддерживает большой спектр измерений и может быть использован как оптический профилометр и измеритель шероховатости.
По запросу
Микроскоп Keyence VHX-5000 — новые возможности цифровой микроскопии. С помощью VHS5000 Вы легко и быстро решите сложные задачи в микроэлектроники, машиностроении, материаловедении, минералогии, криминалистике, биологии и пр. Такой обширный спектр применения объясняется уникальными технологическими особенностями прибора.
По запросу
VHX6000 KEYENCE - усовершенствованная модель микроскопа VHX5000. Обладает более продвинутой системой построения и обработки изображения и расширенными измерительными и аналитическими возможностями.
По запросу
Keyence VK-X100/X200 — конфокальный лазерный сканирующий микроскоп
По запросу
Новинка!!!
BZ-X700 устанавливается в любом месте благодаря своим компактным размерам и встроенной "темной комнате".
Огороженная камера встроена в корпус микроскопа, что позволяет пользователям получать флуоресцентные изображения даже в ярко освещенной комнате. Кроме того, система может быть помещена в отдельное помещение или контролируемую зону, что снижает риск ненадлежащей работы с образцом и загрязнения.
Доступны несколько режимов наблюдения. Включает флюоресценцию, светлое поле и фазовый контраст в одном блоке.