
По запросу
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.

По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).

По запросу
Cканирующий электронный микроскоп EXplorer Aspex (FEI) со встроенным энергодисперсионным анализом

По запросу
Настольный сканирующий электронный микроскоп EXpress ASPEX (FEI) с энергодисперсионным анализом

По запросу
Загрузка пластин: 300 мм
Производительность при толщине 25 нм: 4 ламели / час
Высокопроизводительная система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин.

По запросу
EXtreme ASPEX (FEI) — мобильный сканирующий электронный микроскоп с энергодисперсионным анализом для проведения исследования в полевых условиях

По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga.
По запросу
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для анализа отказов

По запросу
Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.

По запросу
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.

По запросу
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

По запросу
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.

По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.

По запросу
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.

По запросу
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.

По запросу
Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.

По запросу
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.

По запросу
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.

По запросу
Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ
Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ
Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА
В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

По запросу
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Компания «Серния Инжиниринг» предлагает исследовательские микроскопы профессионального уровня в Москве, Санкт-Петербурге, Нижнем Новгороде и с доставкой в другие города РФ по доступным ценам. В каталоге магазина представлены оборудование производителей Thermo Fisher Scientific и ее дочерней компании FEI company, Aspex, CSInstruments, Keyence. Это приборы, которые способны вывести на новый уровень электронную микроскопию, расширить ее возможности, глубину исследования и сферу использования.
Области применения микроскопов для исследования
Электронные микроскопы – это оборудование, позволяющее получать изображение исследуемого объекта с увеличением до 106 раз. В отличие от оптических аналогов, здесь используется не световой поток, а электронный пучок, обладающий высокой энергией (200-400 кэВ и более). Разрешающая способность приборов в 10 000 раз превосходит аналогичный показатель традиционных моделей.
Купить исследовательский микроскоп можно для лабораторий и производственных предприятий, работающих в направлениях:
- хранение данных и полупроводники: трехмерная метрология, анализ неисправностей, дефектов, редактирование рабочих схем;
- биология: клеточная, электронная томография, токсикология, криобиология, фармацевтический контроль, вирусология и пр.;
- научные исследования: подготовка, классификация образцов, материалов, нанометрология, микроструктурные исследования, создание нанопрототипов;
- промышленность: электронная литография, судебная экспертиза, микротехнология, плоское и трехмерное снятие микрохарактеристик, анализ и добыча полезных ископаемых.
Оборудование позволяет получать изображение высокого разрешения с сохранением абсолютной целостности исследуемого образца.
Виды
В каталоге магазина представлены разные виды приборов для исследования:
- Сканирующие. Совмещают магнитные и электростатические методы погружения. Способны обнаружить обратное рассеивание.
- Сканирующие с энергодисперсионным анализом. Имеют встроенную опцию EDX-анализа.
- Двухлучевые с плазменным фокусированным ионным пучком. Применяются для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S/TEM без содержания Ga.
- Электронно-ионные. Имеют передовую электронно-ионную оптику, 2.3 мм поле зрения, инфракрасную камеру для просмотра образца, безмасляную вакуумную систему.
- Криоэлектронные. Применяются для исследования молекулярных структур. Могут работать с разными методами исследования: TEM, STEM и low-dose.
Весь товар, представленный на сайте – новый, сертифицированный и имеет гарантии. Выбрать прибор поможет подробное описание с техническими характеристиками. У нас можно подобрать профессиональный исследовательский микроскоп по доступной цене. Если потребуются дополнительные консультации и помощь в выборе, свяжитесь с менеджерами «Серния Инжиниринг» по телефону или отправьте запрос через форму обратной связи, электронную почту.