Сравнить

Apreo SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.

Сравнить

В избранное

Axia ChemiSEM Thermo Scientific - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Технология: ChemiSEM (SEM+EDS)

СЭМ нового поколения с высоким уровнем автоматизация процесса исследования, сокращенным в 2 раза временем анализа образца и расширенными функциями визуализации. Обладает возможностью исследовать образцы максимального размера и массы - до 10 кг!

Сравнить

В избранное

ExSolve 2 WTP- система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин (THERMO FISHER SCIENTIFIC)

Производитель: Thermo Fisher Scientific

Цена:
По запросу

Режимы: SEM, FIB, OM, Dark Field OM
Загрузка пластин: 300 мм
Производительность при толщине 25 нм: 4 ламели / час

Высокопроизводительная система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин.

Сравнить

В избранное

Helios 5 PFIB DualBeam - двухлучевой СЭМ с плазменным фокусированным ионным пучком

Производитель: Thermo Fisher Scientific

Цена:
По запросу

Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga.

Сравнить

В избранное

Helios 5 UX DualBeam - двухлучевой СЭМ с плазменным фокусированным ионным пучком

Производитель: Thermo Fisher Scientific

Цена:
По запросу

Гарантия: 12 месяцев

Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для анализа отказов

Сравнить

В избранное

Helios G4 UX - электронно-ионный микроскоп (THERMO FISHER SCIENTIFIC)

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.

Сравнить

В избранное

Helios NanoLab 660 FEI - электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Гарантия: 12 месяцев

Разрешение эл.пучка: 0.6 нм при 30 кВ (STEM)
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)

Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.

В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.

Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.

Сравнить

В избранное

Inspect SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.

Сравнить

В избранное

NovaNano SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.

Сравнить

В избранное

Prisma E SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Увеличение: от 6 до 1000000 x
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ

Новинка 2018 года!

Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.

Сравнить

В избранное

Prisma EX SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Увеличение: от 6 до 1000000 x
Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE)
Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE)
Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE)
Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ

Новинка 2018 года!

Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.

Сравнить

В избранное

Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп с аналитическими возможностями

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Увеличение: от 6 до 1,000,000×
Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка
Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах
Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах

Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.

Сравнить

В избранное

Quanta 650 (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Универсальные микроскопы Quanta позволяют решать любые исследовательские задачи.

Сравнить

В избранное

Quanta SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.

Сравнить

В избранное

Quattro ESEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.

Сравнить

В избранное

Scios 2 DualBeam Thermo Scientific - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп

Производитель: Thermo Fisher Scientific

Цена:
По запросу

Диапазон токов пучка: 1 пА - 400 нА
Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ
Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ
Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА

В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Сравнить

В избранное

Scios DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM)
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ

В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Сравнить

В избранное

V400 FIB FEI (Thermo Fisher Scientific) - ионный микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.

Сравнить

В избранное

Verios XHR SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - сканирующий электронный микроскоп экстра высокого разрешения

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.

Сравнить

В избранное

Versa 3D DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп

Производитель: FEI

Цена:
По запросу

Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ

Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.

Растровые микроскопы