По запросу
Энергия ионов : менее 12 эВ
Вакуумная система: давление 1 x 10-7 мбар
Рабочие газы: 25% кислорода и 75% аргона
Эффективная очистка образцов для электронной микроскопии от органического углерода
По запросу
Размер ионного пучка: до 1 мкм
Переменное напряжение : 50 эВ - 2 кВ
Прецизионная система подготовки образцов для ПЭМ методом ионного утонения с диаметром пучка до 1 мкм.
По запросу
Кол-во ионных источников: 2
Диапазон рабочих энергий : от 100 эВ до 10,0 кэВ
Диапазон регулируемых углов полировки: от – 15° до + 10°
Настольная прецизионная система подготовки высококачественных образцов для ПЭМ из широкого спектра материалов.
По запросу
Размеры образца (кросс-секционирование): от 3*3*0,7 мм до 10*10*4,0 мм
Размеры образца (планарная обработка): диам. 32 мм*В 25 мм
Настольная прецизионная система подготовки высококачественных образцов для СЭМ для широкого спектра применений.
По запросу
Размеры образца (кросс-секционирование): от 3*3*0,7 мм до 10*10*4,0 мм
Размеры образца (планарная обработка): диам. 50 мм*В 25 мм
Настольная прецизионная система подготовки высококачественных образцов для СЭМ.
Область обработки 50 мм.
Три ионных источника.
По запросу
Размер пластины: до 300 мм
Размер ионного пучка: до 2 мм
Автоматизированная система ионно-лучевого послойного травления на полупроводниковых пластинах (до 300 мм) для подготовки образцов к CD-SEM (Critical dimensions SEM, контроль критических размеров в сканирующем электронном микросокопе).
По запросу
Осциллирующее поле : 13,56 МГц
Энергия ионов : менее 12 эВ
Вакуумная система: давление 1 x 10-6 мбар
Рабочие газы: 25% кислорода и 75% аргона
Эффективная очистка образцов, держателей, решеток и крупных структур перед применением средств электронной микроскопии и других исследовательских методов.
По запросу
Размер ионного пучка: менее 1 мкм
Диапазон напряжений: от 50 эВ до 2 кВ
Прецизионная система подготовки образцов для ПЭМ методом ионного утонения с диаметром пучка менее 1 мкм, низкоэнергетическим источником ионов инертного газа и колонной СЭМ.
По запросу
Доп.оборудоание: модель 120
Доп.оборудоание: модель 140
Автоматическая двухсторонняя электролитическая полировка или химическое травление образцов для ПЭМ.
По запросу
Блок для полного автоматического управления питанием системы автоматической двухсторонней электролитической полировки образцов для ПЭМ.
По запросу
Размеры (мм): 25 x 64 x 28
Устройство перфорирования позволяет создавать высококачественные образцы дисковой формы из тонкой металлической фольги путем механического воздействия.
По запросу
Цифровой блок для управления питанием системы автоматической двухсторонней электролитической полировки образцов для ПЭМ.
По запросу
Диаметр образца (мм): до 18
Механическое утонение образца для просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). Значительно сокращает время, затраченное на процесс финальной подготовки с помощью систем ионно-лучевой полировки.
По запросу
Утонение: от 10 микрон до 10 мм
Быстрое перфорирование образцов для ПЭМ из твердых или хрупких материалов без механического или термического повреждения. Создание образцов дисковой, цилиндрической и прямоугольной формы.
По запросу
Диаметр итогового образца: до 3 мм
Полноценный набор для выравнивания поверхностей и выполнения точного поперечного сечения для ПЭМ. Производит образцы с постоянной толщиной клеевого слоя
По запросу
Время хранения (max): 6 часов
Параметры работы СЭМ: до 30 кэВ
Устранение загрязнений образца при решении задач сканирующей электронной микроскопии (СЭМ).
По запросу
Управление скоростью шлифовки: Автоматическое
Контроль усилия шлифования: Микрометр
Совместимость: модель 160
Простой в использовании, современный механический инструмент утонения, предназначенный для выполнения высококачественной подготовки образцов к электронной микроскопии.
По запросу
Разрешение: 0,34 нм
Дрейф: < 1,5 нм/минуту
Угол наклона (max): ±80°
Поле обзора: до 1,6 мм при 70°
Большие углы наклона образца и широкий диапазон перемещений для работы при комнатной температуре.
По запросу
Разрешение: 0,34 нм
Дрейф: < 1,5 нм/минуту
Угол наклона (max): ±80°
Поле обзора: до 1,6 мм при 70°
Материал наконечника: Бериллий
Оптимальное решение для получения трехмерной информации о структуре и элементном составе образца.
По запросу
Разрешение: 0,34 нм
Дрейф: < 1,5 нм/минуту
Угол наклона (max): до ±90°
Поле обзора: не ограничено
Наклон до 90° при расстоянии до полюсного наконечника менее 3 мм.
Компания «Sernia Инжиниринг» предлагает покупателям из Москвы, Санкт-Петербурга и других регионов России оборудование для пробоподготовки. Это продукция производства Fischione Instruments, Inc. – бренда, который выпускает приборы из области электронной микроскопии. На все оборудование, представленное в этом каталоге товаров новое, действуют гарантии. Оно гарантирует высокую точность и качество научных исследований, простоту и удобство работ.
Область применения оборудования для пробоподготовки
Пробоподготовка – это ряд действий над исследуемым материалом, направленных на его приведение в форму или состояние, пригодное для последующего изучения его свойств. С ее помощью также можно избавиться от компонентов, которые не нужны для анализа. К этой категории относится гомогенизация, измельчение, гидролиз, экстракция, плазменная очистка, травление, перфорирование и пр.
Купить оборудование для пробоподготовки стоит для специальных исследовательских центров, различных отраслей промышленности. Наиболее часто его применяют в таких отраслях:
- лабораторная хроматография;
- масс-спектрометрия образа;
- микроскопический анализ структуры поверхности;
- рентгенофлуоресцентный анализ;
- рентгеноструктурная диагностика;
- минералогические исследования;
- химические анализ и пр.
Оборудование может работать с металлами, сплавами, рудными материалами и пр.
Отбор пробы – один из важных этапов исследований. От точности его проведения зависит то, насколько качественным будет итоговый результат. Поэтому к выбору оборудования подходят комплексно и ответственно. Специалисты компании «Sernia Инжиниринг» познакомят вас более подробно с характеристиками оборудования для пробоподготовки и помогут подобрать то, которое будет соответствовать специфике работ. Получить консультации можно по телефону или через онлайн-форму.