Что такое атомно-силовая микроскопия?
Атомно-силовая микроскопия, АСМ (atomic force microscope, AFM) - тип сканирующей зондовой микроскопии с применением микроскопического сенсора силы в качестве зонда. Силовой сенсор - это гибкая микроконсоль с наконечником. Силовой сенсор проводит сканирование микроповерхности образца. Выполняя сканирование, атомно-силовой микроскоп записывает деформацию консоли. По степени деформации консоли можно измерять локальную высоту микрообъекта.
Основные тенденции в развитии атомно-силовой микроскопии
Атомно-силовая микроскопия является наиболее важным методом сканирующей зондовой микроскопии и находит широкое применение в исследованиях материалов на субмиккронной шкале. Основной принцип применения АСМ состоит в получении трехмерных изображений рельефа поверхности с высоким разрешением. Определение шероховатости обработанных поверхностей и аккуратный контроль микроскопической структуры являются двумя важными областями индустриального применения АСМ. Превосходная чувствительность по силе и разрешение на уровне нанометров, присущие АСМ, делают ее незаменимым методом для количественной оценки суб-100-нанометровых структур, которые являются сущностью нанотехнологий.
Применение более мягких и более острых зондов приводит к увеличению пространственного разрешения и увеличению контроля над силой взаимодействия зонд-образец при малых значениях сил, что делает возможным отображение предельно мягких материалов. В дополнение к изображениям высокого разрешения, картирование состава является ключевой чертой большинства исследования таких мягких материалов, как полимеры и биологические объекты.
Для расширения экспериментальных данных возможно применение аксессуаров для контроля за температурой и средой. Технология АСМ также будет полезна в измерениях локальных механических свойств. Есть ряд подходов (модуляция силы, сдвиговые колебания, наноиндентация и пр.) пригодных для этих целей.
Атомно-силовые микроскопы CSInstuments
Атомно-силовые микроскопы от французского производителя CSInstruments отвечают всем требованиям, предъявляемые к современному аналитическому оборудованию. Новая модель Nano-Observer AFM CSI - это гибкий и мощный инструмент для нанотехнологий. Спроектированный с использованием новейших технологических решений атомно-силовой микроскоп Nano-Observer AFM сочетает в себе большие исследовательские возможности и простоту использования. Система комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей. Cистема использует низкошумящий лазер и предварительную юстировочную систему, что облегчает получение достоверных изображений высокого качества с помощью различных методик АСМ.