пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Атомно-силовой микроскоп FM-Nanoview 1000 AFM

FM-Nanoview 1000 AFM - недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства.
Высокоэффективный АСМ, отличающийся простотой в использовании, высоким разрешением и быстротой построения изображения без потери качества. Микроскоп отлично подойдет для контактных исследований шероховатости поверхности.

Задать вопрос
Цена с НДС:
По запросу
Доставка по всей России бесплатно
Подробнее о доставке здесь
  • Детальное описание
  • Тех.характеристики
  • Документация
  • Оплата и доставка

Описание атомно-силового микроскопа FM-Nanoview 1000 AFM

FM-Nanoview 1000 AFM - недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства. Сканирующая головка и предметный столик для образцов сконструированы совместно, обладают сильными антивибрационными характеристиками. Прецизионное лазерное обнаружение и устройство выравнивания зондов делают лазерную настройку простой и удобной.

Возможность адаптировать серводвигатель для управления образцом. Точность и большой диапазон устройств передачи проб позволяют сканировать любую интересующую область образца. В состав входит система оптического наблюдения для проверки наконечника зонда и позиционирования образца. Встроенная система виброизоляции эффективно защищает микроскоп от внешних вибраций. Два вида пикселя для выбора: 256 × 256, 512 × 512.

Программное обеспечение

  • Выполняет функцию перемещения и выбор области сканирования
  • В начале работы сканирует образец при случайном угле;
  • Дает возможность отрегулировать систему обнаружения пятна лазера в реальном времени;
  • Дает возможность выбрать и установите другой цвет изображения сканирования из палитры.
  • Поддержка линейного усреднения и калибровки смещения в реальном времени для образца;
  • Поддержка калибровки чувствительности сканера и электронный контроллер автоматической калибровки;
  • Поддержка автономного анализа и обработки образца изображения.

Основные технические параметры атомно-силового микроскопа FM-Nanoview 1000 AFM

Параметры

  Описание

Размер исследуемых образцов

в направлении X / Y: не более 3 см, в направление Z: не более 5 мм;

Диапазон сканирования

опционально в направление X / Y: 50мкм, в направление Z: 2мкм (в зависимости от пьезосканера).

Разрешение сканирования

в направление X / Y: 0,2 нм, в направление Z: 0,05 нм

Шаг перемещения образца по Z

0 ~ 13мм

Скорость сканирования

0,6 Гц ~ 4.34 Гц

Оптический объектив для позиционирования

увеличение 4X с разрешением 2.5 мкм

ПЗС-монитор

5.6 " в диагонали

ОС управления

Windows XP / 7/8/10

Интерфейс подключения к ПК

USB 2.0 / 3.0

Система подавления акустического шума

Сканирующая насадка висит на пружине, внутри закрытого металлического корпуса


Разрешение: X/Y: 0.2 nm, Z: 0.05nm