Система измерения электрических характеристик ResiScope II для АСМ Nano-Оbserver CSInstruments

ResiScope II – система измерения электрических характеристик для АСМ Nano-Observer CSI

ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.

ResiScope II - модуль для измерения сопротивления

ResiScope II - это уникальная система, способная измерять сопротивление в диапазоне 10 порядков с высокой чувствительностью и разрешением. Измерения производятся с помощью постоянного тока, протекающего между образцом и приводящим зондом АСМ. Зонд сканирует в контактном режиме с помощью отклонения лазерного луча для обратной связи АСМ. В качестве независимого измерителя, ResiScope II измеряет сопротивление образца через высокопроизводительный усилитель (HPA).

Комбинируя этот модуль с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) Вы получите различную информацию от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда. Таким образом, Вы сможете получить несколько характеристик образца в одной и той же области сканирования.

На каких АСМ применяется ResiScope II

ResiScope II применяется вместе с атомно-силовым микроскопом Nano-Observer CSI. Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI - это гибкий и мощный инструмент для нанотехнологий. Спроектированный с использованием новейших технологических решений микроскоп Nano-Observer AFM сочетает в себе большие исследовательские возможности и простоту использования. Система комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей.

Система использует низкошумящий лазер и предварительную юстировочную систему, что облегчает получение достоверных изображений высокого качества с помощью различных методик АСМ.

Компактный микроскоп Nano-Observer AFM будет полезен в работе как начинающим исследователям, так и опытным пользователям. Режим предпросмотра образца и высокий уровень автоматизации позволяют быстро и удобно получать данные об образце на атомном уровне.

Другие модули для электрических измерений

HD-KFM (Kelvin Force Microscopy) - поверхностная потенциальная микроскопия

• Картирование поверхности
• Сверхвысокая чувствительность и высокое пространственное разрешение

ResiScope - модуль для контактных АСМ экспериментов

• Resiscope - это модуль для проведения контактных АСМ экспериментов. При помощи проводящего зонда считываются изменения токов и сопротивлений на большом поле зрения при подключении внешнего усилителя. Токовые характеристики можно снимать во всех участках образца.

Модуль Soft ResiScope - модуль для измерения токовых характеристик

• Soft ResiScope - это динамический контактный модуль, который позволяет проводить контактные эксперименты, не повреждая поверхность образца.
• Модуль позволяет изучать органические фотоэлементы, проводящие полимерные структуры и биологические объекты.
  

ЧИТАТЬ СТАТЬЮ ОБ АСМ NANOOBSERVER>>