ПЭТ разрешение (изотоп 18F /изотопы с большим диаметром 124I и 82Rb): <0,55 мм/ <0,75 Временное разрешение: <8 c для всего тела, <1 c для отдельных органов
U-PET6CT - позитронно-эмиссионный томограф высокой четкости, предназначенный для проведения доклинических исследований на мышах и мелких животных . ПЭТ разрешение - <0,55 мм / <0,55 мм.
ОФЭКТ разрешение: <0,15 мм Временное разрешение: <8 c для всего тела, <1 c для отдельных органов Чувствительность: <0,10 МБк (~ 3 мкКи) Пространственное разрешение: <0,25 мм in vivo
U-SPECT6CT —
однофотонный эмиссионный компьютерный томограф (ОФЭКТ) для животных in vivo MILabs с функцией КТ. ОФЭКТ разрешение - <0,15 мм
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
ОФЭКТ разрешение : 0,15 мм ПЭТ разрешение : 0,6 мм для F18 ПЭТ разрешение : 0,75 мм для I124
VECTOR6CT — однофотонный эмиссионный компьютерный томограф (ОФЭКТ) + позитронно-эмиссионный томограф (ПЭТ) для животных in vivo MILabs с функцией КТ. ОФЭКТ разрешение - 0,15 мм. ПЭТ разрешение - 0,6 мм /0,75 мм при 18F/124I.
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Диаметр образца: от 25 до 60 мм Детектирование данных: по 128 каналам Ионная пушка С60 : 20 кВ Диаметр рентгеновского пучка: менее 10 мкм
Передовая система с улучшенной производительностью и дополнительными техническими возможностями, важными для изучения современных материалов (технология XPS, ESCA, РФЭС)
Система на базе СЭМ для получения высококачественных данных о трехмерной структуре образца (3D), полученных на основе большого объема выборок с высоким разрешением и хорошей изотропностью.
FM-Nanoview 1000 AFM - недорогой атомно-силовой микроскоп китайского производства.
Высокоэффективный АСМ, отличающийся простотой в использовании, высоким разрешением и быстротой построения изображения без потери качества. Микроскоп отлично подойдет для контактных исследований шероховатости поверхности.
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
В данном разделе находится оборудование для дополнительного оснащения электронно-ионных микроскопов, а именно манипуляторы, устанавливаемые в камеру электронно-ионного микроскопа.
Tecnai™ с i-корректором — комбинация просвечивающего электронного и флуоресцентного микроскопов. Система позволяет исследовать биологические образцы в просвечивающем и флуоресцентном режимах одновременно, не вынимая образец из камеры.
