Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное вращение в одной плоскости внутри микроскопа.
Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное планарное вращение внутри микроскопа.
Размер образца (картридж 1,8 мм): диам. до 1 мм/длина до 20 мм Размер образца (картридж 1,0 мм): образец цилиндр/конус Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): Непрерывное и пошаговое (3 шага по 120°) вращение на угол 360°
Инновационный держатель образцов, имеющих форму стержня или конуса.
Размер решетки для образцов: диам. 3 мм Разрешение: 0,18 нм при угле наклона 0° Дрейф: 1,5 нм/мин-1 Угол наклона (max): ±80° Поле обзора: диам. 2 мм при угле наклона 0°
Транспортировка и низкоэнергетическая томография тонких образцов при криогенных температурах после их заморозки в гидратированном состоянии или витрификации.
Размер образца: диам. 3 мм или решетка для ПЭМ/толщ до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): ±70° Поле обзора: до 1 мм при угле наклона 70°
Защита образца при транспортировке до просвечивающего электронного микроскопа
Регистрация изображений путем детектирования рассеянных на большие углы электронов с помощью сканирующей просвечивающей кольцевой темнопольной электронной микроскопии. Для использования с микроскопами компании Thermo Fisher Scientific.
Самый универсальный и эффективный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). Подходит для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств.
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это двулучевой микроскоп с возможностью заморозки образцов, который обеспечивает оптимальную подготовку проб для последующих исследований в просвечивающем микроскопе (ПЭМ/TEM) методом крио-томографии.
СЭМ нового поколения с высоким уровнем автоматизация процесса исследования, сокращенным в 2 раза временем анализа образца и расширенными функциями визуализации. Обладает возможностью исследовать образцы максимального размера и массы - до 10 кг!
Система подавления электромагнитных помех FDЗ000– это система экранирова-ния с активной компенсацией магнитного поля за счет изменения электрического поля.
Количество позиционеров зондов: 8 Размеры образца (max): до 50 мм Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Бюджетная, эффективная и простая в использовании установка для нанотестирования на базе сканирующего электронного микроскопа.
Обеспечивает измерение электрических характеристик, локализацию сбойных узлов, отладку и анализ отказов.
