G-SPECT - однофотонный эмиссионный компьютерный томограф для клинических исследований. Инновационная ОФЭКТ- система отмечена специальной наградой конгресса Commercial Innovation of the Year 2015.
Thermo Scientific ™ Glacios ™ Cryo - просвечивающий электронный
микроскоп (крио-TEM), комплексное решение по доступной цене для
исследований широкого круга задач.
Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga.
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм при 30 кВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD) Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод) Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)
Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.
В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.
Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.
Универсальное решение в области компьютерной микротомографии (microCT) для количественного анализа, проводимого различными методами в рамках материаловедения.
Установка Hyperion II – это атомно-силовой зондирующий микроскоп (AFP), построенный на базе нанозондовой платформы, в котором используется несколько сканирующих зондов для визуализации топологии тестируемого устройства и установления электрического контакта с исследуемым объектом.
Атомно-силовой зондирующий микроскоп Hyperion II Thermo Fisher Scientific предназначен для быстрого тестирования полупроводниковых устройств и отображения токов.
Линейка микроскопов Inspect™ SEM FEI предназначена для получения изображений высокого разрешения. Эти экономичные модели микроскопов, созданные по передовым технологиям FEI, могут быть дооснащены различными опциями и предназначены как для промышленных предприятий, так и для исследовательских лабораторий, занимающихся экспертизой и изучением характеристик материалов.
Thermo Scientific ™ Metrios™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп (TEM), профессиональное высокопроизводительное комплексное решение для анализа отказов.
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
Разрешение: 7 нм Количество позиционеров зондов: 8 Размеры образца (max): до 50 мм Разрешение колонны СЭМ: до 200 эВ Поле обзора колонны СЭМ (FOV): +/- 100 мкм
Передовая высокопроизводительная нанозондовая система на базе сканирующего микроскопа для процессов изготовления полупроводниковых приборов, отладки проектов и анализа отказов. Параметр измерения электрических характеристик и локализации дефектов электрических узлов с геометрическими с разрешением - до 7 нм.
Технологическая норма: 10 нм и более Разрешение изображений FIB: менее 3.0 нм Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ – 30 кВ Ток пучка: Ток пучка 250 фА – 20 нА
OptiFIB Taipan - установка для редактирования топологии ИС на базе FIB.
Установка позволяет достичь разрешения изображений, полученных с помощью сфокусированного ионного пучка (FIB), 3 нм и лучше. Чем выше разрешение, тем с большей точностью можно осуществлять навигацию по образцу, выполнять операции редактирования топологии и определять момент окончания травления.
Система из электронно-лучевой колонны, устройства прецизионного позиционирования образцов, продвинутой вибро- и теплоизоляции с полным спектром возможностей для формирования изображений и проведения оже-спектроскопии наноструктур с увеличением до 500 тыс. крат и выше.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
