Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
Увеличение: от 6 до 1,000,000× Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
SAM-SPICA - сканирующий акустический микроскоп корейского производителя Acoulab. Микроскоп предназначен для исследований материалов из стали и цветных металлов.
AcouLab SAM-TITAN - основная система для высокоскоростной цифровой интегрированной сканирующей акустической микроскопии, предназначенной для ультразвуковой проверки интегральных микросхем и неразрушающего метода обнаружения внутренних разрывов.
Диапазон токов пучка: 1 пА - 400 нА Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА
В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Обеспечивает доказанные на практике и оптимальные эксплуатационные показатели получения изображения на гибкой модульной платформе, максимально удобной в эксплуатации.
FEI Talos™ TEM - просвечивающий электронный микроскоп нового поколения,
разработанный с целью предоставить исследователю возможность быстро
получать информацию об объектах в форматах 2D и 3D.
Автоанализ (EDS/без EDS): 10000/30000 частиц в час Разрешение: 14 нм Увеличение: 80x-40000x
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ/SEM) с анализатором EDX Explorer 4 можно назвать лучшим решением для операций, направленных на улучшение производственных процессов с целью повышения качества, оптимизации производственного процесса, анализа отказов и рентабельности.
Explorer 4 предоставляет полную морфологическую и химическую характеристику любого интересующего объекта – в случае потребности в быстрой и неразрушающей характеристике включений, пор или частиц.
Titan Кrios TEM FEI — идеальный прибор для быстрого, автоматического получения
изображений большого объема, а также информации в 3-D формате о
биологических клетках с детализацией отдельных молекулярных комплексов.
Определение структуры апоферритина 3,5 Å : 24–72 часа Фиксированное ускоряющее напряжение : 100 кВ Загрузка образцов: полуавтомат Станция криоподготовки: + Устройство для переноса образцов со стационарным криобоксом: +
Просвечивающий криоэлектронный микроскоп последнего поколения для получения 3D изображений и анализа одиночных частиц (SPA) в биохимических лабораториях
