Сканирующая/растровая электронная микроскопия (СЭМ/РЭМ/SEM) является одним из наиболее широко используемых для диагностики наноматериалов и наноструктур методов. Предел разрешения сканирующего электронного микроскопа приближается к нескольким нанометрам, а увеличение варьируется от ~10 до более 300000. СЭМ не только предоставляет сведения о топографии поверхности, как обычные оптические микроскопы, но и обеспечивает информацией о химическом составе приповерхностной области.
Принцип работы и возможности
- Сканирование производится в условиях вакуума.
- Образцы сканируются пучком средних энергий.
- Сканирование возможно в режимах вторичных или отраженных электронов.
- Возможности сканирующего электронного микроскопа обеспечивают не только высокое разрешение, но и визуализацию с получением изображений.
- Получение информации о свойствах подповерхностных структур.
Сфера применения
- Характеристики сканирующих электронных микроскопов позволяют применять их в качестве прибора для проведения исследований в электронике, биологии и физике.
- Получение изображения исследуемых материалов.
- Получение изображения электронной микросхемы.
- Получение изображения промежуточной стадии процесса фотолитографии и др. уникальные возможности.
Электронные сканирующие микроскопы от компании ООО «Серния Инжиниринг»
- Возможность купить оборудование высокого мирового уровня для исследования наноструктур
- Быстрая доставка.
- Гибкая система оплаты.
- Профессиональные консультации наших специалистов.
- Возможность заказать и купить товар по доступной цене, специальные скидки для постоянных заказчиков.
- Гарантийное и постгарантийное обслуживание оборудования.
Вы можете купить высокоэффективный сканирующий электронный микроскоп, доступные цены, доставка в Москву и др. города и регионы, выгодные условия сотрудничества, профессиональная помощь в подборе оборудования из каталога и установке – сотрудничество с нашей компаний поможет в развитии вашего предприятия!