пн-пт  10:00 - 19:00
office@sernia.ru
Каталог
8 (800) 301 13 17
Заказать звонок
0 0
RU
EN
Главная страницаКаталогАналитическое оборудование для научных исследованийМикроскопыМикроскопы электронно-ионные

Микроскопы электронно-ионные

Производитель
Энергодисперсионный анализатор
Аналитические возможности
Тип микроскопа
Количество на странице:
20
Сравнить
В избранное
Aquilos Cryo-FIB DualBeam (FEI) - электронно-ионный микроскоп Thermo Fisher Scientific (двухлучевой)
Производитель: FEI
Цена:
 По запросу

Aquilos Cryo FIB Thermo Scientific - это двулучевой микроскоп с возможностью заморозки образцов, который обеспечивает оптимальную подготовку проб для последующих исследований в просвечивающем микроскопе (ПЭМ/TEM) методом крио-томографии.

Сравнить
В избранное
ExSolve 2 WTP
ExSolve 2 WTP- система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин (THERMO FISHER SCIENTIFIC)
Производитель: Thermo Fisher Scientific
Цена:
 По запросу
Режимы: SEM, FIB, OM, Dark Field OM
Загрузка пластин: 300 мм
Производительность при толщине 25 нм: 4 ламели / час

Высокопроизводительная система для изготовления ламелей полупроводниковых пластин.

Сравнить
В избранное
Helios 5 PFIB DualBeam - двухлучевой СЭМ с плазменным фокусированным ионным пучком
Производитель: Thermo Fisher Scientific
Цена:
 По запросу

Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для 3D-характеризации больших объемов и подготовки образцов S / TEM без содержания Ga. 

Сравнить
В избранное
Helios 5 UX DualBeam
Helios 5 UX DualBeam - двухлучевой СЭМ с плазменным фокусированным ионным пучком
Производитель: Thermo Fisher Scientific
Цена:
 По запросу
Гарантия: 12 месяцев

Универсальный двухлучевой сканирующий электронный микроскоп с плазменным фокусированным ионным пучком для анализа отказов

Сравнить
В избранное
Helios G4 UX - электронно-ионный микроскоп (THERMO FISHER SCIENTIFIC)
Производитель: FEI
Цена:
 По запросу

Наиболее продвинутые показатели фокусированного ионного и электронного пучка, непревзойденный уровень автоматизации и удобство в применении.

Сравнить
В избранное
Helios NanoLab 660 FEI - электронно-ионный (двухлучевой) микроскоп
Производитель: FEI
Цена:
 По запросу
Гарантия: 12 месяцев
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм при 30 кВ (STEM)
Разрешение эл.пучка: 0.6 нм от 15 кВ до 2 кВ
Разрешение эл.пучка: 0.7 нм при 1 кВ
Разрешение эл.пучка: 1.0 нм при 500 В (ICD)
Разрешение ионного пучка: 4.0 нм при 30 кВ (опт.стат.метод)
Разрешение ионного пучка: 2.5 нм при 30 кВ (селект.гранич.метод)

Двухлучевые микроскопы линейки Helios NanoLab представляют собой сочетание самых современных сканирующих электронных микроскопов и технологий фокусированного ионного пучка Sidewinder FIB. Эксклюзивная технология DualBeam™ дает новые возможности сверхвысокого разрешения при 2D- и 3D-характеризации, создании нанопрототипов и подготовке образцов.

В комплекте с системой газовой инжекции, дополнительными детекторами и манипуляторами обеспечивает непревзойденное разрешение и высокопроизводительное травление при помощи пучка ионов для быстрой подготовки образцов с целью последующего анализа в просвечивающем электронном микроскопе.

Дополнительный детектор STEM 30 кВ поддерживает высокое разрешение и высокий контраст изображения, что делает систему уникальной и не имеющей себе равных среди приборов для визуализации поверхности, анализа материалов, модификации поверхности и подготовки образцов для TEM.

Сравнить
В избранное
Scios 2 DualBeam Thermo Scientific - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп
Производитель: Thermo Fisher Scientific
Цена:
 По запросу
Диапазон токов пучка: 1 пА - 400 нА
Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ
Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ
Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ
Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА

В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Сравнить
В избранное
Scios DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп
Производитель: FEI
Цена:
 По запросу
Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM)
Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ
Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ

В микроскопе Scios™  FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.

Сравнить
В избранное
Versa 3D DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп
Производитель: FEI
Цена:
 По запросу
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ

Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп. 
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.

Электронно-ионные микроскопы (DualBeams) — это двулучевые системы, которые представляют собой комбинирование сканирующего электронного (СЭМ) и ионного микроскопов (ФИП).

В системе двух пучков ФИП и СЭМ идеально дополняют друг друга, создавая новые возможности для микроскопических исследований. Например, ФИП-изображения очень полезны из-за высокой контрастной способности, а СЭМ обладает более высоким разрешением, и его использование не повреждает образца. Ионный пучок также используется для подготовки образцов для исследований в ПЭМ.

В данном разделе представлены наиболее передовые  двулучевые системы производства компании FEI (Thermo Fisher Scientific), используемые для исследований в микроэлектронике, материаловедении, биологии.