пн-пт  10:00 - 19:00

Versa 3D DualBeam FEI - электронно-ионный (двулучевой) микроскоп

Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп. 
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.

Все характеристики
Производитель: FEI Flag
Цена по запросу
Отправить запрос на КП
Задать вопрос
Доставка
Бесплатно по всей России
Подробнее
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.  Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Описание
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Описание
Универсальная двулучевая система для трехмерной визуализации, определения характеристик материалов, прототипирования и исследований, в том числе и в естественных условиях.

Сочетание в системе двух лучей позволяет исследовать поверхностные и подповерхностные области любых образцов (нанометрового и микрометрового масштаба), а также изготавливать кросс-секции объекта исследования.

Производит подготовку высококачественных образцов для исследований в просвечивающем электронном микроскопе (TEM).

Гибкость конфигурации вакуумного режима прибора  позволяет исследовать токопроводящие образцы в в режиме высокого вакуума или  токопроводящие и непроводящие образцы в режиме высокого и низкого вакуумов.

Программное обеспечение Auto Slice и View G3 позволяет выполнять трехмерный анализ характеристик широкого спектра материалов.

Имеет возможность проводить динамические эксперименты с газовым и термическим контролем.
Таблица значений разрешения электронного луча (нм) Конфигурация системы Versa 3D

HiVac
HiVac/LoVac
HiVac/LoVac/ESEM
Режим высокого вакуума    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ 1,2 1,2 1,2
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ с PC* 1,0 1,0 1,0
Разрешение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии 30 кВ 0,8 0,8 0,8
Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ 2,5 2,5 2,5
Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ 1,5 1,5 1,5
Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ 1,3 1,3 1,3
Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ 2,9 2,9 2,9
Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ с BD*+ICD* и PC* 2,0 2,0 2,0
Режим низкого вакуума*    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ   1,5 1,5
Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ   2,5 2,5
Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ   3,0 3,0
Режим естественной среды*    
Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ     1,5
Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ     3,0
* опциональные компоненты
(PC = плазменный очиститель, BD = замедление луча, ICD – встроенный в колонну детектор)
Характеристики
Разрешение эл.пучка: 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Документы
Оплата и доставка
  • Отправьте запрос на сайте через форму обратной связи «ЗАКАЗАТЬ». Укажите необходимое количество товара и нужный способ доставки, любые другие детали запроса
  • Отправьте запрос на e-mail am@sernia.ru с темой «Запрос на оборудование», указав необходимое количество товара, сроки и способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный звонок для регионов), доб. 203, контактное лицо - Масюк Алексей Владимирович.