Под заказ
Усовершенствованная версия модели Quanta 3D FEG. Versa 3D — двулучевой электронно-ионный микроскоп.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
Все характеристики
Производитель:
FEI 
Поделиться:
Описание
Характеристики
Документы
Оплата и доставка
Описание
Универсальная двулучевая система для трехмерной визуализации, определения характеристик материалов, прототипирования и исследований, в том числе и в естественных условиях.
Сочетание в системе двух лучей позволяет исследовать поверхностные и подповерхностные области любых образцов (нанометрового и микрометрового масштаба), а также изготавливать кросс-секции объекта исследования.
Производит подготовку высококачественных образцов для исследований в просвечивающем электронном микроскопе (TEM).
Гибкость конфигурации вакуумного режима прибора позволяет исследовать токопроводящие образцы в в режиме высокого вакуума или токопроводящие и непроводящие образцы в режиме высокого и низкого вакуумов.
Программное обеспечение Auto Slice и View G3 позволяет выполнять трехмерный анализ характеристик широкого спектра материалов.
Имеет возможность проводить динамические эксперименты с газовым и термическим контролем.
Сочетание в системе двух лучей позволяет исследовать поверхностные и подповерхностные области любых образцов (нанометрового и микрометрового масштаба), а также изготавливать кросс-секции объекта исследования.
Производит подготовку высококачественных образцов для исследований в просвечивающем электронном микроскопе (TEM).
Гибкость конфигурации вакуумного режима прибора позволяет исследовать токопроводящие образцы в в режиме высокого вакуума или токопроводящие и непроводящие образцы в режиме высокого и низкого вакуумов.
Программное обеспечение Auto Slice и View G3 позволяет выполнять трехмерный анализ характеристик широкого спектра материалов.
Имеет возможность проводить динамические эксперименты с газовым и термическим контролем.
| Таблица значений разрешения электронного луча (нм) | Конфигурация системы Versa 3D | |||||
|
|
HiVac |
HiVac/LoVac |
HiVac/LoVac/ESEM | |||
| Режим высокого вакуума | ||||||
| Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ | 1,2 | 1,2 | 1,2 | |||
| Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ с PC* | 1,0 | 1,0 | 1,0 | |||
| Разрешение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии 30 кВ | 0,8 | 0,8 | 0,8 | |||
| Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ | 2,5 | 2,5 | 2,5 | |||
| Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ | 1,5 | 1,5 | 1,5 | |||
| Разрешение детектора вторичных электронов 15 кВ | 1,3 | 1,3 | 1,3 | |||
| Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ | 2,9 | 2,9 | 2,9 | |||
| Разрешение детектора вторичных электронов 1 кВ с BD*+ICD* и PC* | 2,0 | 2,0 | 2,0 | |||
| Режим низкого вакуума* | ||||||
| Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ | 1,5 | 1,5 | ||||
| Разрешение детектора отраженных электронов 30 кВ | 2,5 | 2,5 | ||||
| Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ | 3,0 | 3,0 | ||||
| Режим естественной среды* | ||||||
| Разрешение детектора вторичных электронов 30 кВ | 1,5 | |||||
| Разрешение детектора вторичных электронов 3 кВ | 3,0 | |||||
|
* опциональные компоненты (PC = плазменный очиститель, BD = замедление луча, ICD – встроенный в колонну детектор) |
||||||
Характеристики
| Разрешение эл.пучка: | 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ |
| Разрешение ионного пучка: | 5 нм при 30 кВ СПЭМ |
Документы
Оплата и доставка
- Отправьте запрос на сайте через форму обратной связи «ЗАКАЗАТЬ». Укажите необходимое количество товара и нужный способ доставки, любые другие детали запроса
- Отправьте запрос на e-mail am@sernia.ru с темой «Запрос на оборудование», указав необходимое количество товара, сроки и способ доставки, любые другие детали запроса.
- Позвоните по телефону +7 (495) 204-13-17 или 8 (800) 301-13-17 (бесплатный звонок для регионов), доб. 203, контактное лицо - Масюк Алексей Владимирович.