По запросу
Энергия ионов : менее 12 эВ
Вакуумная система: давление 1 x 10-7 мбар
Рабочие газы: 25% кислорода и 75% аргона
Эффективная очистка образцов для электронной микроскопии от органического углерода
По запросу
Осциллирующее поле : 13,56 МГц
Энергия ионов : менее 12 эВ
Вакуумная система: давление 1 x 10-6 мбар
Рабочие газы: 25% кислорода и 75% аргона
Эффективная очистка образцов, держателей, решеток и крупных структур перед применением средств электронной микроскопии и других исследовательских методов.
По запросу
Время хранения (max): 6 часов
Параметры работы СЭМ: до 30 кэВ
Устранение загрязнений образца при решении задач сканирующей электронной микроскопии (СЭМ).
По запросу
Компактное решение для хранения и транспортировки образцов и держателей для ПЭМ в условиях вакуума.
По запросу
Станция для вакуумных контейнеров с прошедшими плазменную очистку образцами и их держателей, используемых в просвечивающей микроскопии.
По запросу
Держатели образцов (ПЭМ): хранение в чистом вакууме
Количество портов: от 1 до 4
Высокопроизводительная вакуумная система для хранения держателей образцов ПЭМ и откачки воздуха из держателей образцов для криогенной томографии