Производитель: Physical Electronics (PHI)
Цена:
По запросу
По запросу
Увеличение наноструктур: 500 000 крат и выше
Система из электронно-лучевой колонны, устройства прецизионного позиционирования образцов, продвинутой вибро- и теплоизоляции с полным спектром возможностей для формирования изображений и проведения оже-спектроскопии наноструктур с увеличением до 500 тыс. крат и выше.
Производитель: Physical Electronics (PHI)
Цена:
По запросу
По запросу
Технология: XPS/HAXPES
Диаметр рентгеновского пучка (Cr): менее 14 мкм
Диаметр рентгеновского пучка (Al): менее 10 мкм
Диаметр рентгеновского пучка (Cr): менее 14 мкм
Диаметр рентгеновского пучка (Al): менее 10 мкм
Уникальная комбинированная система сканирующей электронной спектроскопии (технология XPS/HAXPES).
Производитель: Physical Electronics (PHI)
Цена:
По запросу
По запросу
Диаметр образца: от 25 до 60 мм
Детектирование данных: по 128 каналам
Ионная пушка С60 : 20 кВ
Диаметр рентгеновского пучка: менее 10 мкм
Детектирование данных: по 128 каналам
Ионная пушка С60 : 20 кВ
Диаметр рентгеновского пучка: менее 10 мкм
Передовая система с улучшенной производительностью и дополнительными техническими возможностями, важными для изучения современных материалов (технология XPS, ESCA, РФЭС)