Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное вращение в одной плоскости внутри микроскопа.
Размер образца (диам./толщ.): 3 мм/до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): до ±70° Поле обзора: до 950 мкм при угле наклона 70°
Прецизионное планарное вращение внутри микроскопа.
Размер образца (картридж 1,8 мм): диам. до 1 мм/длина до 20 мм Размер образца (картридж 1,0 мм): образец цилиндр/конус Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): Непрерывное и пошаговое (3 шага по 120°) вращение на угол 360°
Инновационный держатель образцов, имеющих форму стержня или конуса.
Размер решетки для образцов: диам. 3 мм Разрешение: 0,18 нм при угле наклона 0° Дрейф: 1,5 нм/мин-1 Угол наклона (max): ±80° Поле обзора: диам. 2 мм при угле наклона 0°
Транспортировка и низкоэнергетическая томография тонких образцов при криогенных температурах после их заморозки в гидратированном состоянии или витрификации.
Размер образца: диам. 3 мм или решетка для ПЭМ/толщ до 100 мкм Разрешение: 0,34 нм Дрейф: < 1,5 нм/минуту Угол наклона (max): ±70° Поле обзора: до 1 мм при угле наклона 70°
Защита образца при транспортировке до просвечивающего электронного микроскопа
Регистрация изображений путем детектирования рассеянных на большие углы электронов с помощью сканирующей просвечивающей кольцевой темнопольной электронной микроскопии. Для использования с микроскопами компании Thermo Fisher Scientific.
Система подавления электромагнитных помех FDЗ000– это система экранирова-ния с активной компенсацией магнитного поля за счет изменения электрического поля.
В данном разделе находится оборудование для дополнительного оснащения электронно-ионных микроскопов, а именно манипуляторы, устанавливаемые в камеру электронно-ионного микроскопа.
Размер камеры: d 170 мм и h 140 мм Габариты установки: 450 х 500 х 370 мм (В х Ш х Г) Предельный вакуум: менее 50 мТорр Вес в упаковке: 42 кг
Настольная установка подготовки образцов модели DSCR представляет собой компактную систему нанесения покрытий, включающую как напыление, так и устройство для нанесения углеродного покрытия. Идеально подходит для работы со сканирующим электронным микроскопом (SEM).
Размер камеры: d 170 мм и h 140 мм Габариты установки: 450 х 500 х 370 мм (В х Ш х Г) Предельный вакуум: менее 50 мTорр Вес в упаковке: 46 кг
Настольная установка подготовки образцов модели DCR представляет собой компактную систему покрытия углеродным волокном, подходящую для подготовки образцов для использования в сканирующем электронном микроскопе (SEM), трансмиссионном электронном микроскопе (TEM) и в рентгеновском анализе (EDX).
Размер камеры: d 170 мм, h 140 мм Габариты установки: 450 х 500 х 370 мм (В х Ш х Г) Предельный вакуум: менее 7 x 10 -7 Торр Вес в упаковке: 46 кг
Настольная установка подготовки образцов модели DCT представляет собой компактную систему нанесения углеродного покрытия с турбонасосом, которая идеально подходит для FE-SEM, EDS/WDS, TEM, EBSD и нанесения тонких пленок.
