Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: ниже 180 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 150 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR150 для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: ниже 180 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 150 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR150 для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 150 нм Радиус кривизны зонда: менее 150 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 180 нм Радиус кривизны зонда: менее 150 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: 14-20 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: 14 -20 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: от 10 до 20 нм Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: от 14 до 20 нм Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: от 14 до 20 нм Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,25 мм Длина усадки наконечника (TSL): 250 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня зонда (WD) 0,25 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 250 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,25 мм Длина усадки наконечника (TSL): 300 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня зонда (WD) 0,25 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 300 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,25 мм Длина усадки наконечника (TSL): 350 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня зонда (WD) 0,25 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 350 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,3 мм Длина усадки наконечника (TSL): 250 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня (WD) 0.3 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 250 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,3 мм Длина усадки наконечника (TSL): 300 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня зонда (WD) 0,3 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 300 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия Радиус кривизны: менее 20 нм Диаметр стержня зонда: 0,3 мм Длина усадки наконечника (TSL): 350 мкм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20 для нанозондирования в СТМ (сканирующих туннельных микроскопах).
Радиус кривизны менее 20 нм.
Диаметр стержня зонда (WD) 0,3 мм.
Длина усадки наконечника (TSL) 350 мкм.
Материал: вольфрам без покрытия + медная трубка Технологическая норма: ниже 14 нм Размер образца: до 20 нм Специализация: Hitachi Nano prober system Радиус кривизны зонда: менее 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,6 мм Длина конуса: 2 мм Длина зонда (общая): 12 мм
Нанозонды типа CR20+ (Ultra CR20 Plus) для нанозондирования в СЭМ Hitachi.
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 200 нм Радиус кривизны зонда: менее 200 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 200 нм Радиус кривизны зонда: менее 200 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 250 нм Радиус кривизны зонда: менее 250 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
Материал: вольфрам без покрытия Технологическая норма: ниже 250 нм Радиус кривизны зонда: менее 250 нм Размер образца: до 20 нм Диаметр стержня зонда : 0,25 мм Длина конуса: 2,5 мм Длина зонда (общая): 12,5 мм
