Производитель: FEI
Цена:
По запросу
По запросу
Инновационный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) с технологиями последнего поколения. Подходит для исследования наночастиц, порошков, катализаторов и наноустройств, а также массивных магнитных образцов, даже на больших рабочих расстояниях (10 мм).
Производитель: Keyence
Цена:
По запросу
По запросу
НОВИНКА!!!
Микроскоп VR-3000 Keyence поддерживает большой спектр измерений и может быть использован как оптический профилометр и измеритель шероховатости.