Minilock Orion III — установка для плазмохимического осаждения тонких пленок из газовой фазы с вакуумным шлюзом (ПХО, PECVD) лабораторного и промышленного назначения
Небольшая установка плазмохимического травления c вакуумным шлюзом промышленного назначения. Установка может использоваться для любых процессов плазмохимического травления с использованием фторных газов и кислорода.
Выпуск прекращен, для подбора аналога обращайтесь к менеджерам
Микроскопы линейки Nova NanoSEM FEI отличаются ультравысокой разрешающей способностью в режимах высокого и низкого вакуумов. Данный тип микроскопа предназначен для исследования для непроводящих, легко заряжающихся материалов и/или газящих образцов в наномасштабе.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Сканирующий электронный микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific предназначен для всесторонних исследований в области материаловедения. Микроскоп Prisma E Thermo Fisher Scientific - это многофункциональный СЭМ для многоцелевых лабораторий, требующих всесторонних исследований, с одной стороны, и простоты использования с другой.
Prisma E предлагает широкий функционал в области обработки изображений и аналитики, уникальный режим ESEM (естественная среда) и полный набор аксессуаров, которые делают его наиболее полным и доступным SEM с вольфрамовым катодом.
Увеличение: от 6 до 1000000 x Ток пучка: до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 3.0 нм при 30 kВ (SE) Разрешение, низкий вакуум: 4.0 нм при 30 kВ (BSE) Разрешение, низкий вакуум: 10 нм при 3 kВ (SE) Разрешение, режим ESEM : 3.0 нм при 30 kВ (SE) Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 kВ
Новинка 2018 года!
Идеальный SEM для многоцелевых лабораторий, которым необходима многофункциональность и простота использования. Prisma EX предлагает работу с изображениями под любым углом зрения, имеет уникальный режим ESEM ™ (естественная среда) и мощный элементный анализ с полнофункциональным детектором EDX.
Увеличение: от 6 до 1,000,000× Ток пучка : до 2 мкA, плавная регулировка Разрешение, высокий вакуум: 3.0 нм при 30 кВ (SE) изображение во вторичных электронах Разрешение, высокий вакуум: 4.0 нм при 30 кВ (BSE) изображение в обратно-отраженных электронах Разрешение, высокий вакуум: 8.0 нм при 3 кВ (SE) изображение во вторичных электронах
Q250 SEM FEI (Thermo Fisher Scientific) - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для исследований различного рода материлов. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. В состав входит UltraDry EDS детектор и специальное программное обеспечение Pathfinder для изучения химического и элементного состава образца.
Quanta SEM FEI - универсальный микроскоп высокого разрешения, предназначенный для рутинных исследований. Высокопроизводительная система с тремя вакуумными режимами. Имеется возможность оснащения дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Quattro ESEM Thermo Fisher Scientific (FEI)- универсальный микроскоп сверхвысокого разрешения до 0.8 нм. Высокопроизводительный прибор с тремя вакуумными режимами: высокий вакуум, низкий вакуум, режим ESEM. Оснащен дополнительными системами для проведения EDX, WDS, EBSD-анализа для изучения химического и элементного состава образца.
Анализатор спектра R&S FPС1000 – это новая серия анализаторов спектра, отличающихся компактностью и недорогой ценой. Удовлетворительные характеристики в диапазоне частот от 5 кГц до 1 / 2 / 3 ГГц (2 и 3 ГГц опционально), высокая точность измерений и получение надежных результатов подтверждены лабораторными испытаниями.
Диапазон токов пучка: 1 пА - 400 нА Диапазон энергий в точке падения пучка на образец: 20* эВ – 30 кэВ Диапазон ускоряющих напряжений: 200 В – 30 кВ Ускоряющее напряжение (ионная колонна): 500 В – 30 кВ Диапазон токов пучка (ионная колонна): 1.5 пА – 65 нА
В микроскопе Scios 2 DualBeam применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая высочайшие эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Разрешение эл.пучка: 0,8 нм при 30 кэВ (STEM) Разрешение эл.пучка: 1,0 нм при 15 кэВ Разрешение эл.пучка: 1,6 нм при 1 кэВ
В микроскопе Scios™ FEI применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Настольная, лабораторная, базовая модель. Sirus T2 Trion (RIE) - установка плазмохимического травления. Может использоваться для любых процессов с применением фторных газов и кислорода.
