По запросу
Полоса пропускания: 100 МГц
Частота дискретизации: 2 Гвыб./с
Длина записи: 2500 точек
Дисплей (1/4 VGA ЖКИ): Цветной
Вертикальное разрешение : 8 бит
Вертикальная чувствительность : 2 мВ до 5 В/дел с калиброванной тонкой настройкой
Погрешность по вертикали (DC) : ±3%
Масштабирование по вертикали : Увеличение или уменьшение вертикального размера осциллограммы, в реальном времени и остановленной
Макс. вход. напряжение : 300 Вскз CAT II снижается на 20 дБ/декаду на частоте свыше 100 кГц до 13 Вразмах переменного тока при 3 МГц
Диапазон смещения : 2 - 200 мВ/дел +2 В; 200 мВ - 5 В/дел +50 В
Ограничение полосы : 20 МГц
Входы : AC, DC, GND
Вх. импеданс : 1 МОм/20 пФ
Горизонтальная развертка : 5 нс - 50 c/дел
Точность горизонтальной развертки : 50x10е–6
Масштабирование по горизонтали : Увеличение или уменьшение горизонтального размера осциллограммы, в реальном времени и остановленной
Порты USB : 2 порта USB 2.0; основной порт USB на передней панели поддерживает запоминающие устройства USB; порт устройств USB, расположенный на задней панели прибора, обеспечивает подключение к персональному компьютеру и любому принтеру, совместимому с PictBridge
GPIB : приобретается дополнительно
Отображение опорной осциллограммы : 2,5 тыс. точек опорной осциллограммы
Хранение осциллограммы без запоминающего устройства USB : 2,5 тыс. точек
Хранение осциллограммы в запоминающем устройстве USB : 96 и более опорных осциллограмм в пределах 8 МБ
Настройки без запоминающего устройства USB : 10 настроек для передней панели
Настройки с запоминающим устройством USB : 4 000 и более настроек для передней панели в пределах 8 МБ
Снимки экрана в запоминающем устройстве USB: 128 и более снимков экрана в пределах 8 МБ; количество снимков зависит от выбранного формата файлов
Сохранение всей информации в запоминающем устройстве USB: 12 и более операций "Сохранить все" в пределах 8 МБ; при одной операции "Сохранить все" создается от 3 до 9 файлов; (настройка, снимок экрана и по одному файлу для каждой отображаемой осциллограммы)
Сбор данных : режим обнаружения пиков – регистрация высокочастотных сигналов и случайных выбросов. Регистрируются выбросы длительностью всего 12 нс (типичное значение) при использовании оборудования для сбора данных на всех настройках горизонтальной развертки от 5 мкс/дел до 50 с/дел; выборка – только выборка данных; усреднение – выбирается число усредняемых осциллограмм: 4, 16, 64, 128; одиночный запуск – кнопка одиночного запуска используется для запуска одиночного цикла регистрации данных; режим прокрутки – при настройке горизонтальной развертки >100 мс/дел
Режимы синхронизации : автоматический, нормальный и однократный
Типы синхронизации : по фронту (нарастающему/нисходящему) – обычная синхронизация по уровню. Нарастающий или нисходящий фронт в любом канале. Типы входа: по переменному току, по постоянному току, с подавлением шума, с подавлением ВЧ, с подавлением НЧ; видео – синхронизация по всем строкам, по выбранным строкам, по нечетным и четным полям, по всем полям композитного видеосигнала или телевещательных стандартов (NTSC, PAL, SECAM); по длительности импульса (или по выбросу) – синхронизация по длительности импульса, меньшей или большей выбранного значения, равной или не равной выбранному значению в диапазоне от 33 нс до 10 с;
Источник синхронизации : К1, К2, Внешний, Внешний/5, Сеть переменного тока
Автоматические измерения сигналов: период, частота, длительность положительного импульса, длительность отрицательного импульса, длительность фронта, длительность спада, максимум, минимум, двойной размах, среднее значение, среднеквадратическое значение, среднеквадратическое значение за период, среднеквадратическое значение по курсору, скважность, фаза, задержка
Математические функции : сложение, вычитание, умножение, БПФ (окна: Ганна, с плоской вершиной, прямоугольник с 2048 точками)
Источники : К1 к К2, К2 к К1, К3 к К4, К4 к К3, К1+К2, К3+К4, К1xК2, К3xК4
Интерполяция : Sin(x)/x
Отображение данных : точки, векторы
Послесвечение : отключено, 1 c, 2 c, 5 c, бесконечно
Формат: YT и XY
Меню автоустановки для прямоугольного сигнала: один период, несколько периодов, передний или задний фронт
Меню автоустановки для синуса: один период, несколько периодов, БПФ
Меню автоустановки для видео (NTSC, PAL, SECAM) : поля: все, четные, нечетные; строки: все или выбранные по номеру
Размер: 326,3х158,0х124,2 мм
Цифровой осциллограф, 100 МГц, частота дискретизации 2 Гвыб/с, 4 кан., память 2500 точек, сертификат отслеживаемой калибровки
По запросу
СПЭМ-разрешение: 60-164 пм
Разброс по энергии: 0,2–0,3 эВ / 0,8 эВ
Высокопроизводительное формирование изображений с субангстремным разрешением для двухмерного и трёхмерного анализа на атомарном уровне
Информационный предел: | 60-110 пм |
СПЭМ-разрешение: | 60-164 пм |
Разброс по энергии: | 0,2-0,3 эВ/0,8 эВ |
По запросу
Titan Кrios TEM FEI — идеальный прибор для быстрого, автоматического получения изображений большого объема, а также информации в 3-D формате о биологических клетках с детализацией отдельных молекулярных комплексов.
По запросу
Высокопроизводительная, высокоскоростная, высокопрецизионная система для анализа, обработки и визуализации поверхности образцов с возможностью модификации и нанофабрикации микроэлектронных компонентов как на поверхности образца, так и с обратной стороны, возможность быстрого анализа дефектов и отказов.
По запросу
Verios XHR SEM FEI - новое поколение сканирующих электронных микроскопов с экстремально высоким разрешением. Обеспечивает субнанометровое разрешение при ускоряющем напряжении от 1 кВ до 30 кВ с исключительным контрастом изображения.
По запросу
Разрешение ионного пучка: 5 нм при 30 кВ СПЭМ
Разрешение в режиме электронов 0.8 нм при 30 кВ СПЭМ. Разрешение в режиме ионов 5 нм при 30 кВ СПЭМ.
По запросу
Vion Plasma FIB — система с фокусированным ионным пучком (ФИП/FIB) FEI
По запросу
JetEtch Pro - это автоматическая система химической декапсуляции, которая воздействует на обрабатываемый образец кислотой через специальный инжектор.
По запросу
Новинка!!!
АСМ Nano-Observer CSI - гибкий инструмент для исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности. Интуитивно понятный интерфейс позволяет быстро овладеть навыками использования АСМ.
По запросу
Источник-измеритель с системой термоэлектрического охлаждения для тестирования мощных лазерных диодов и светодиодов.
По запросу
Модельный ряд серии 2600B Keithley - Стоимость (руб.)
2601B - 626500.50
2602B - 922869.00
2604B - 847839.00
2606B - 1883253.00
2611B - 626500.50
2612B - 922869.00
2614B - 847839.00
2634B - 1343037.00
2635B - 1012905.00
2636B - 1530612.00
По запросу
Лабораторный стол CleanBench с изоляторами Gimbal Piston для подавления вибраций
По запросу
Отличное решение для устранения вибраций при работе с атомно-силовыми микроскопами и другими прецизионными приборами.
Новинка!!!
По запросу
Отличное решение для устранения вибраций при работе c атомно-силовыми микроскопами и другими прецизионными приборами.
Новинка!!!
По запросу
Оптические столы ClassOne™ CleanTop® разработаны для эксплуатации в условиях чистых помещений. Имеют стальную конструкцию и могут быть выполнены в 2 вариантах структурного демпфирования.
По запросу
Оптические столы научного класса обладают высокими конструкционными показателями с уменьшенным по сравнению со столами исследовательского класса уровнем структурного демпфирования. Уровень пиков податливости превышен в 4 раза по сравнению с платформами исследовательского класса.
По запросу
Оптические столы CleanTop®OpticalTop могут быть выполнены в «немагнитном» виде для применения в условиях сильных магнитных полей.
По запросу
Оптическая антивибрационная платформа для применения в условиях вакуума, имеющая непревзойденные на сегодняшний день эксплуатационные характеристики
По запросу
НОВИНКА!!! Установка для вскрытия микросхем при помощи химической декапсуляции. Благодаря уникальному набору функций JetEtch TotalPROTECT может травить самые разнообразные интегральные схемы любой сложности, сохраняя при этом целостность чувствительных элементов.
По запросу
Новинка!!!
ResiScope II – это продолжение модуля ResiScope, который был разработан для проведения контактных АСМ экспериментов. Новый модуль ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением.
ResiScope II используется для исследований на АСМ Nano-Observer CSI - конфигурируемый АСМдля исследований на наноуровне. Комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей, что значительно расширяет его исследовательские возможности.