пн-пт  10:00 - 19:00

Новости

Производитель
Отрасль
Категория
Количество на странице:
15
15 30 60
Использование метода атомно слоевого осаждения для изготовления МЭМС/НЭМС устройств
Атомно-слоевое осаждение (Atomic layer deposition – ALD) – это тонкопленочная технология, позволяющая производить совершенно новые и высокотехнологичные продукты. ALD является мощным инструментом для производства наноразмерных систем, где требуется создавать совершенно беспористые, равномерные покрытия с прецизионной точностью по толщине на подложках сложной формы или на структурах с высоким аспектным соотношением.
14 ноября 2015
GTEM! камера – оперативные испытания некрупногабаритных объектов на ЭМС
Перед многими специалистами сейчас стоят задачи испытаний техники на электромагнитную совместимость. Как правило, для этих целей используют безэховую экранированную камеру (БЭК). Но строительство такой камеры – дорогостоящее решение. Возведение БЭК требует колоссальных затрат и огромных помещений. Альтернативным решением является GTEM!-камера. GTEM! представляет собой камеру поперечной электромагнитной волны в гигагерцовом диапазоне частот. Это компактная автономная камера, представляющая собой TEM-волновод.
14 ноября 2015
Новые технологии – новые преимущества с прецизионным семплирующим мультиметром DMM7510
Компания Keithley – ведущий производитель прецизионного измерительного оборудования – выпустила новую модель мультиметра DMM7510. Впервые цифровой мультиметр DMM7510 сочетает в себе все преимущества прецизионного цифрового мультиметра с графическим 5-дюймовым дисплеем и высокоскоростным 18-битным АЦП с высоким разрешением до 7½ разряда.
14 ноября 2015
Экранированные двери ETS-Lindgren – надежная защита Ваших сигналов
Не секрет, что слабыми местами в любой РЧ камере являются двери. Основная сложность при изготовлении экранированной двери – обеспечение неразрывного механического контакта между дверной коробкой и полотном при закрытой двери. Сама дверная коробка при этом должна быть соединена с РЧ экраном таким образом, чтобы в месте их соединения не было утечек сигналов.
14 ноября 2015
Цифровой микроскоп VHX-5000: мельчайшие детали под любым углом зрения
Компания Keyence – мировой лидер в производстве систем измерения - выпустила революционную модель цифрового микроскопа универсального назначения VHX-5000. С помощью VHX-5000 Вы легко и быстро решите сложные задачи в микроэлектронике, машиностроении, материаловедении, минералогии, криминалистике, биологии и пр. Обширный спектр применения объясняется уникальными техническими особенностями прибора. Диапазон увеличения до 5000 раз: визуальное наблюдение от стереоскопических изображений в макро-масштабе до детального анализа как в сканирующем электронном микроскопе (SEM). Поддерживается наблюдение при помощи проходящего света, поляризованного света, дифференциальная интерференция.
14 ноября 2015
Как измерить сверхмалые токи и тераомы?
С помощью электрометра 6517В и испытательной камеры 8009 Keithley можно проводить точные измерения высоких удельных сопротивлений диэлектриков, малых токов от 1 фА, напряжений до 200В. Сочетание чувствительного входного усилителя малых токов, падения напряжения <20 мкВ на самом нижнем диапазоне тока и входного сопротивления при измерении напряжений и сопротивлений 200 ТОм, позволяет измерять напряжения, сопротивления и заряды при малом токе и большом сопротивлении образцов. И всё это со скоростью до 425 отсчетов в секунду!
14 ноября 2015
Метод когерентной корреляционной интерферометрии для измерения тонких плёнок
Постоянно растущие требования к технологии нанесения тонких пленок ведет к росту требований к оборудованию, контролирующему их качество. Важно контролировать как толщину, так и равномерность пленок с целью обеспечения качества, эффективности и их функциональности. В метрологии используется несколько методов для измерения толщины пленки. К традиционным относятся методы спектрофотометрии и эллипсометрии. В последнее время становится популярен метод Когерентной Сканирующей Интерферометрии (CSI) из-за его высокого пространственного разрешения и скорости. Тем не менее, одним из ограничений традиционной интерферометрии является толщина покрытия, которая может быть измерена. Как правило, она должна быть больше, чем 1,5 мкм, чтобы получить точные данные.
14 ноября 2015
Программное обеспечение для испытаний на ЭМС
Компания ETS-Lindgren разработала программное обеспечение TILE!, которое значительно облегчает процесс проведения испытаний для ЭМС. TILE! – это полностью интегрированное ПО для лабораторных условий, которое помогает управлять тестовым комплексом путем простого построения алгоритма работы из элементов библиотеки.
14 ноября 2015
Анонс от Tektronix: новый векторный генератор сигналов
Сегодня в сфере проектирования и изготовления беспроводных устройств существует очевидная потребность в контрольно-измерительных решениях, которые были бы не очень дороги и в то же время отвечали предъявляемым к ним строгим требованиям. Компания Tektronix первой предприняла меры по заполнению этого пробела, выпустив векторный генератор РЧ сигналов TSG4100A, который обладает превосходными характеристиками при доступной цене.
14 ноября 2015
Лазерный сканирующий микроскоп VK-X100/X200 Keyence vs Оптический микроскоп и СЭМ
Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) VK-X100/X200 – это визуальное и измерительное устройство, которое сочетает в себе лазерную и оптическую системы для создания изображений с высоким разрешением в нанометровом диапазоне. Для обозначения лазерных сканирующих микроскопов используется, как правило, 2 вида обозначений: “LSM”(Laser scanning microscope) или “LSCM” (Laser scanning confocal microscope).
14 ноября 2015
Измерение тока в проводных коммуникациях
Для решения целого спектра задач по испытаниям образцов техники на электромагнитную совместимость, а также по оценке защищенности технических средств, обрабатывающих информацию ограниченного распространения, от ее утечки за счет наводок, возникает необходимость измерения тока в различных проводных коммуникациях и кабелях, подключаемых к объекту исследований.
14 ноября 2015
Характериограф – устройство для анализа полупроводников
Снятие входных, выходных и передаточных характеристик полупроводниковых приборов и экстракция из них электрофизических параметров является одной из важнейших задач при разработке полупроводниковых приборов и микросхем. Данная задача требует одно- и двухканальных прецизионных источников, и измерителей напряжения и тока, работающих по согласованной программе измерений. Традиционно такие приборы называются характериографами (или параметрическими анализаторами), т.е. приборами для построения электрических характеристик.
14 ноября 2015
Генератор сигналов произвольной формы и стандартных функций AFG1022 Tektronix
Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель контрольно-измерительного и мониторингового оборудования, представила новый генератор сигналов произвольной формы и стандартных функций начального уровня AFG1022 с лучшими в своём классе характеристиками и функциональностью, который поддерживает широкий диапазон приложений. Генератор AFG1022 полностью поддерживается новым решением для беспроводного управления лабораторными приборами
14 ноября 2015
ETS-Lindgren представила на выставке новые модели усилителей мощности
Компания ETS-Lindgren представила на выставке EMV 2015 в Штутгарте новую линейку усилителей мощности для тестирования устойчивости к излучаемым помехам и ВЧ-тестирования. Усилители гарантируют хорошее  сопряжение усилителя, антенны и безэховой камеры, что обеспечивается линейностью коэффициента усиления (+/- 2дБ) и КСВН выхода близкое к 1.
14 ноября 2015
Новинка: измерительные антенны RFSpin для испытаний на ЭМС
Компания RFspin  разработала широкий спектр измерительных рупорных антенн в диапазоне частот до 110 ГГц для различных  областей применения.  Использование высококачественных материалов, новые технологии и прецизионная точность при производстве антенн определяют высокие и стабильные характеристики антенн: узкий лепесток диаграммы направленности, высокий коэффициент усиления, низкие уровни  бокового излучения и кросс поляризационной составляющей - что повышает качество и дальность действия антенн RFspin.
14 ноября 2015