пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91
Москва
Санкт-Петербург
По всей России
Москва
Санкт-Петербург
По всей России

Physical Electronics (PHI) – системы для анализа поверхностей

photo

PHI – новый производитель на сайте Серния Инжиниринг

ООО «Серния Инжиниринг» представляет оборудование компании Physical Electronics (PHI) – разработчика инновационных решений для анализа поверхностей различными методами. Компания Physical Electronics (PHI) является ведущим разработчиком и поставщиком оборудования для анализа поверхностей уже более 50 лет (основана в 1969 году, с 1982 входит в состав корпорации ULVAC-PHI (США-Япония)).

Системы для анализа поверхностей от Physical Electronics (PHI) успешно применяются при исследованиях и разработках передовых материалов в таких высокотехнологичных областях, как: нанотехнологии, микроэлектроника, разработка и анализ магнитных носителей информации, биомедицина, исследования металлов и керамики, полимеров, тонких пленок, катализаторов, производство фотоэлектрических элементов, батарей, износостойких покрытий и др.

PHI_review.png

Системы для анализа поверхностей Physical Electronics (PHI)

В арсенале производимого компанией оборудования для анализа поверхностей представлены уникальные по своим техническим характеристикам и исследовательским возможностям системы сканирующей ожэ-микроскопии (AES), тандемной времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (технология TOF-SIMS, ВИМС), сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS и HAXPES, ESCA, РФЭС) и др.

versa-probe III PHI.png

Все оборудование имеет настраиваемую архитектуру и комплектацию (базовый функционал + опциональный), спроектировано и создано на основе последних технологических достижений в области исследований поверхностей материалов различными методами анализа поверхностей, а также их уникальных комбинаций применения в одном приборе, которые можно найти только у данного производителя.

В каталоге систем для анализа поверхностей PHI представлено следующее оборудование:

  • PHI 710 – система сканирующей ожэ-микроскопии (технология AES);
  • nanoTOF II - система тандемной времяпролетной вторично-ионной масс-спектрометрии (технология TOF-SIMS, ВИМС);
  • VersaProbe III - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS, ESCA, РФЭС);
  • Quantes - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS/HAXPES, ESCA, РФЭС);
  • Quantera II - cистема сканирующей рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (технология XPS, ESCA, РФЭС).

Купить или заказать систему для анализа поверхностей PHI

Вы можете приобрести или получить консультацию по системам для анализа поверхностей PHI в компании «Серния Инжиниринг». Пришлите нам свою заявку на e-mail info@sernia.ru или позвоните по тел.: +7 495 204 13 17. Наши специалисты свяжутся с Вами для обсуждения деталей. 
PHI_footer.png