ИТОГИ выставки Testing & Control 2018
Международная выставка Testing & Control – одна из ключевых выставок в России и странах СНГ в области испытательного и контрольно-измерительного оборудования - в этом году прошла с 23 по 25 октября в Крокус Экспо. В выставке участвовали 114 компаний из 8 стран мира. За три дня работы выставку посетили 11 353 специалиста из 20 стран мира и 52 регионов России. В рамках деловой программы выставки состоялась конференция «Измерения. Испытания. Контроль». Тематические секции конференции были посвящены современному метрологическому обеспечению производства.
Серния Инжиниринг на выставке Testing & Control
Серния Инжиниринг представила на выставке актуальные решения для проверки качества электронных компонентов. Данные решения соответствовали тематике выставки в области средств измерений и испытаний на производстве и современного контрольно-измерительного оборудования.
Актуальность представленных решений была подтверждена огромным интересом посетителей выставки. За три дня работы стенд посетили более 250 человек.
Контрольно-измерительное оборудование
Наибольшим интересом пользовалось комплексное решение для контроля и оценки качества электрофизических свойств полупроводниковых приборов в современной микроэлектронике: параметрический анализатор в составе зондовой станции Semiprobe PS4L M6.
Данное решение будет актуально для измерения характеристик биполярных и полевых транзисторов разного типа проводимости, а также др. электронных компонентов, таких, как диодов, светодиодов, OLED-дисплеев, флэш-памяти с плавающим затвором, фотоячеек, солнечных батарей, МОП-конденсаторов, элементов межсоединений, наноэлектронных объектов (нанопроволок, нанотрубок) и др.
Аналитическое оборудование
Открытие года - АСМ Nanoview 1000
Недорогой атомно-силовой микроскоп Nanoview 1000 AFM от китайского производителя Suzhou Flyingman Precision Instruments Co., Ltd - высокоэффективный АСМ, отличающий простотой в использовании, высоким разрешением и быстротой построения изображения без потери качества. Как известно, атомно-силовая микроскопия с успехом используется для контактных исследований шероховатости поверхности.
