Лазерные технологии нашли широкое применение для анализа отказов при декапсуляции чипов, используемых в полупроводниковой промышленности.
Данная технология имеет преимущества перед механической и химической типами декапсуляций, так как обладает более высокими параметрами селективности, точности и скорости исполнения.
Производители лазерного оборудования разработали специализированные установки, предназначенные для вскрытия микросхем.
Представляем Вам установку лазерной декапсуляции FALIT CLC, которая быстро и точно декапсулирует различные виды корпусов микросхем при проведении анализа отказов.
FALIT CLC - лазерная декапсуляция в полупроводниковой промышленности
Установки лазерной декапсуляции серии FALIT от Control Laser Corporation (CLC) предназначены для лабораторий анализа отказов полупроводников. Система включает в себя стандартные методы тестирования для решения проблем, с которыми сталкиваются каждый день технологи в полупроводниковой промышленности.
Материалы декапсуляции в полупроводниковой промышленности
Установки лазерной декапсуляции FALIT CLC адаптированы к работе с широким выбором эпоксидных составов и различных типов наполнителей. FALIT способны удалять их, сохраняя золотую, серебряную, латунную или алюминиевую соединительную проволоку, кремний, GaAs, InP, оставляя кристаллы неповрежденными.
Усовершенствованная лазерная технология декапсуляции
Лазерная технология, используемая в установках FALIT, может полностью или частично заменить традиционные процессы механического и химического травления. FALIT обеспечивает быстрое и точное решение для декапсуляции ИС (интегральных схем), создания поперечного сечения и снятия крышек, вскрытия внутренней части корпуса из керамики, геля и формовочного компаунда. Данная технология позволяет выявлять дефекты соединительной металлизации, контролировать среднее положение шарика припоя или появление трещин, что помогает собрать больше доказательств отказа.
Универсальные системы лазерной декапсуляции
С помощью технологии лазерной микрообработки FALIT, пользователи могут легко решить множество проблем, связанных с анализом отказов интегральных схем различных моделей упаковки и материалов. Установка FALIT значительно экономит время на настройку и обработку, а также затраты на создание инфраструктуры для дорогостоящих лабораторий с защитой от кислот.
FALIT CLC - неразрушающая декапсуляция без кислоты
Control Laser Corporation (CLC) разработала революционный подход к выполнению неразрушающей декапсуляции кристалла только лазером. Это фотохимический подход в сочетании с коротковолновым лазером, который удаляет эпоксидные составы и/или полиимид с поверхности, оставляя кристалл идеально чистым. Такой вид неразрушающей декапсуляции без кислоты от CLC, реализованный в установках FALIT, переносит декапсуляцию в новую эру.
Инженеры по контролю качества, инженеры по надежности и инженеры по анализу отказов теперь смогут избавиться от кислоты, оставив кристалл “живым” после декапсуляции. CLC стремится создать более безопасную рабочую среду для сообщества FA (анализа отказов) и будет постоянно работать над сокращением использования опасных химических веществ и защитой планеты.
Особенности FALIT CLC
Установки лазерной декапсуляции FALIT поставляются в различных конфигурациях для удовлетворения различных потребностей пользователя при проведении анализа отказов полупроводников. Серия установок FALIT представлена в 7 модификациях – от компактных настольных вариантов, до сложных напольных конфигураций с несколькими лазерами. Для особых задач также возможна подготовка индивидуальной комплектации.
FALIT - лучшее решение для лабораторий анализа отказов! Разнообразные варианты комплектации в сочетании с инновационным подходом к выполнению неразрушающей декапсуляции кристалла только лазером, помогут исследователям получать более точные результаты и проводить анализ отказов быстрее и безопаснее.
Читать подробнее о моделях установок FALIT CLC >>>
Смотреть каталог установок для лазерной декапсуляции >>>
