пн-пт  10:00 - 19:00
г. Москва
+7 (495) 204 13 17
г. Санкт-Петербург
+7 (812) 509 20 91

Результаты конкурса "Зондовые измерения и параметрический анализ"

предыдущий следующий
02 Октября 2019

Призы для тех, кто правильно ответил на вопросы 

С 1 по 30 сентября 2019 прошел конкурс "Зондовые измерения и параметрический анализ" на знание оборудования и методик для проведения зондовых измерений.
Публикуем правильные ответы и имена победителей.

Правильные ответы

1.       Какие параметрические измерения проводятся для оценки качества электронного устройства в 1-ю очередь:

a) параметрические измерения DC/LF без проверки функционала устройства

2.       С помощью каких методик может выполняется калибровка в плоскости зонд/образец?

в) Любая из предложенных

3.       На что необходимо обратить внимание для выполнения качественного контакта с высокой повторяемостью:

г) наличие микроманипуляторов с высоким разрешением

4.       Что необходимо учесть при проведении измерений постоянного тока малых величин, чтобы исключить влияние на результаты измерения внешних факторов и самой зондовой станции?

a) внешний фоновый шум и ток утечки кабелей

5.       Если для проведения тестирования образца вам необходимо двустороннее зондирование, какую модель зондовой станции Semiprobe вы выберете?

a) DSP

6.       Выберете зондовую станцию Semiprobe, с помощью которой можно провести магнитное стимулирование?

в) MSS

7.       Если для проведения тестирования образца вам необходимо произвести DC/HF измерения, какую зондовую станцию Semiprobe вы выберете?

в) LAB ASSISTANT

8.       Какое максимальное напряжение SMU средней мощности у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS возможно при измерениях ВАХ:

a) ±210В

9.       Какое токовое разрешение SMU средней мощности у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS возможно при измерениях ВАХ:

в) 10 аА

10.   Какое преимущество дает наличие внешнего коммутатора 4200А-CVIV у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS:

г) позволяет проводить измерения ВАХ и ВФХ на зондовой станции, не меняя подключения кабелей

11.   Какой диапазон измерений емкости у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS:

в) От 1 пФ до 1 мкФ

12.   Максимальное напряжение низковольтного источника смещения у параметрического анализатора Keithley 4200А-SCS при измерениях ВФХ:

г) ±30В

Победители конкурса:

Правильно ответили на все вопросы только 3 участника. В результате победителями стали:
  1. место - Морковкин Олег Владимирович., приз - рюкзак для ноутбука;
  2. место - Матыкина Арина Андреевна, приз - зонт со встроенным фонариком;
  3. место - Беспалов С.С, приз - беспроводная настольная колонка.

Как получить призы:

Призы можно получить в нашем офисе по адресу:  г.Москва, улица Вавилова, дом 57а, эт 2, офис 211.
Если Вы проживаете в регионе, мы отправим Вам призы по почте. Для обсуждения вариантов получения, свяжитесь с Волковой Екатериной, e-mail.ru. info@sernia.ru.