Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204 13 17
8 (800) 301 13 17

Результаты конкурса "FAILURE ANALYSIS"

Призы для тех, кто правильно ответил на вопросы 

С 24 мая по 24 июня 2019 прошел конкурс "Failure Analysis" на знание современных методов и приборов для анализа отказов в микроэлектронике.
Публикуем правильные ответы и имена победителей.

Правильные ответы 

Вопрос

Ответ

1. Выберите из списка наиболее селективный метод декапсуляции (без температурного воздействия), позволяющий вскрыть чип, не повреждая разварочные выводы?

Плазмохимическая декапсуляция

2. Укажите наиболее универсальный метод декапсуляции, который подходит для всех типов корпусов?

Лазерная декапсуляция

3. Система, которая эффективно работает с серебряными проводами при декапсуляции микросхемы 

Plasma Etch Nisene

4. Каким методом (детектором) проще произвести количественный анализ в электронном микроскопе? 

WDX

5. C помощью какого метода можно наиболее точно произвести с помощью ПЭМ элементный анализ образца, состоящего из легких элементов?

EELS

Победители конкурса:

Правильно ответили на все вопросы только 2 участника. В результате победителями стали:
  1. место - Матыкин А.И., приз - сумка для ноутбука;
  2. место - Беспалов С.С, приз - рюкзак для ноутбука.

Как получить призы:

Призы можно получить в нашем офисе по адресу:  г.Москва, улица Вавилова, дом 57а, эт 2, офис 211.
Если Вы проживаете в регионе, мы отправим Вам призы по почте. Для обсуждения вариантов получения, свяжитесь с Волковой Екатериной, e-mail.ru. info@sernia.ru.