FALIT™ - новая настольная система лазерной декапсуляции от компании Control Laser
FALIT (произносится “F-A-Light”) был специально разработан для лабораторий анализа отказов полупроводников. Система включает в себя стандартные методы тестирования для решения проблем, с которыми сталкиваются каждый день технологи в полупроводниковой промышленности.
FALIT использует запатентованный лазерный процесс с множеством лазерных конфигураций и длин волн для обеспечения четкого и точногох процесса для каждого типа применения.
Основным преимуществом системы FALIT является тот факт, что она предлагает более безопасные, более быстрые и точные методы для анализа отказов по сравнению с химической декапсуляцией.
Возможное применение системы FALIT:
- декапсуляция интегральных микросхем,
- удаления геля,
- кросс-секционирование и вскрытие корпуса компонент,
- удаление компаунда,
- вскрытие проволочных соединения без ущерба для других компонент.
Особенности и преимущества системы:
- Встроенный затвор во избежание потенциального воздействия на человека лазерного излучения.
- Интерфейс программного обеспечения FALIT™ идет в комплекте оборудования.
- Полнофункциональный, графический интерфейс для анализа отказов.
- Модульная система, конфигурируется в соответствии с задачами клиента.
- Безопасная система, не использует для декапсуляции кислоты.
Если Вас заинтересовало данное оборудование, обратитесь к нашим специалистам. Они ответят Вам на все вопросы, а также проведут демонстрацию оборудования. Присылайте Ваши вопросы на e-mail: pk@sernia.ru.Записаться на демонстрацию оборудования>>