Призы для тех, кто правильно ответил на вопросы
С 24 мая по 24 июня 2019 прошел конкурс "Failure Analysis" на знание современных методов и приборов для анализа отказов в микроэлектронике.
Публикуем правильные ответы и имена победителей.
Правильные ответы
|
Вопрос |
Ответ |
|
1. Выберите из списка наиболее селективный метод декапсуляции (без температурного воздействия), позволяющий вскрыть чип, не повреждая разварочные выводы?
|
Плазмохимическая декапсуляция |
|
2. Укажите наиболее универсальный метод декапсуляции, который подходит для всех типов корпусов? |
Лазерная декапсуляция |
|
3. Система, которая эффективно работает с серебряными проводами при декапсуляции микросхемы |
Plasma Etch Nisene |
|
4. Каким методом (детектором) проще произвести количественный анализ в электронном микроскопе? |
WDX |
|
5. C помощью какого метода можно наиболее точно произвести с помощью ПЭМ элементный анализ образца, состоящего из легких элементов? |
EELS |