Лазерный сканирующий микроскоп (ЛСМ) VK-X100/X200 – это визуальное и измерительное устройство, которое сочетает в себе лазерную и оптическую системы для создания изображений с высоким разрешением в нанометровом диапазоне. Для обозначения лазерных сканирующих микроскопов используется, как правило, 2 вида обозначений: “LSM”(Laser scanning microscope) или “LSCM” (Laser scanning confocal microscope).
ЛСМ реализует наблюдение с большой глубиной фокуса и 3D-измерения одновременно. Он не имеет никаких ограничений в отношении размера и материала исследуемого образца, а также не разрушает поверхность образец при исследовании, как и оптический микроскоп.
Изучаемая область исследуется достоверно до мельчайших подробностей, так как при этом не требуется никакой предварительной обработки образца, как при исследовании в электронном сканирующем микроскопе, и, более того, точно воспроизводятся истинные цвета образца. Современные ЛСМ позволяют производить автоматическую сшивку больших изображений, в том числе и трехмерных.
Читать подробнее о сравнении ЛСМ с СЭМ и оптическим микроскопом>>
ЛСМ реализует наблюдение с большой глубиной фокуса и 3D-измерения одновременно. Он не имеет никаких ограничений в отношении размера и материала исследуемого образца, а также не разрушает поверхность образец при исследовании, как и оптический микроскоп.
Изучаемая область исследуется достоверно до мельчайших подробностей, так как при этом не требуется никакой предварительной обработки образца, как при исследовании в электронном сканирующем микроскопе, и, более того, точно воспроизводятся истинные цвета образца. Современные ЛСМ позволяют производить автоматическую сшивку больших изображений, в том числе и трехмерных.
Читать подробнее о сравнении ЛСМ с СЭМ и оптическим микроскопом>>