Соединяя науку и технологии office@sernia.ru
пн-пт 10:00 – 19:00
сб-вс выходные
+7 (495) 204 13 17
8 (800) 301 13 17

Лазерный декапсулятор для выявления контрафактной ЭКБ RETINA™

Цена: По запросу
Производитель: Control Laser
Установка лазерной декапсуляции RETINA разработана  для обнаружения перемаркировки электронно-компонентной базы (ЭКБ). Будет полезна для лабораторий, занимающихся обнаружением поддельной ЭКБ. Лазерная установка RETINA™ позволяет избирательно удалять слои компаунда за несколько секунд с точностью до микрона.
Скачать документацию Задать вопрос
  • Описание
  • Документация

Retina CLC - установка лазерной декапсуляции для проверки контрафактных микросхем

Установка лазерной декапсуляции RETINA разработана специально для обнаружения перемаркировки электронно-компонентной базы (ЭКБ). В основе установки лежит та же технология, что и в установке FALIT, однако данная система стоит намного дешевле, так как лишена некоторых функций оборудования FALIT, ненужных для конкретного применения. Система RETINA будет полезна для лабораторий, занимающихся обнаружением поддельной ЭКБ.

Новейшая разработка для полупроводниковой промышленности – RETINA™ (counteRfEiT semIcoNductor lAser), позволяет избирательно удалять слои компаунда за несколько секунд с точностью до микрона для выявления следов шлифования, призрачных меток и других признаков контрафактного полупроводника без использования опасных химических реагентов. Система Desktop RETINA™ также может полностью декапсулировать большинство полупроводников для выявления следов кристалла, как проверку второго уровня, опять же без использования химических веществ.

Особенности и преимущества RETINA™

Проверка маркировки кристалла интегральных схем для обнаружения подделок

Установка быстро и безопасно удаляет компаунд с помощью лазерной декапсуляции, чтобы метки кристалла можно было проверить по данным изготовителя, таким образом, определив, является ли полупроводник поддельным или нет. Могут быть обнаружены товарные знаки и логотипы компаний, которые остаются на кристалле от фотомаски. Полная декапсуляция интегральной схемы занимает всего несколько секунд, в зависимости от толщины детали. Данная проверка полупроводниковой маркировки удовлетворяет требованиям SAE.

Выявление призрачных меток в контрафактных полупроводниках

Используя лазер с высоким динамическим диапазоном, Вы можете удалить микроны материала из подозрительного контрафактного полупроводника для выявления предыдущих меток, которые мы называем призрачными метками. Не имеет значения, было ли покрытие перекрашено или нет. метки в любом случае будут обнаружены данным лазером. Эта часть системы удовлетворяет тесту SAE AS6171/2.

Удаление эпоксидных смол для выявления маркеров шлифования поддельных полупроводников

RETINA удаляет эпоксидную смолу только на верхней части полупроводника, чтобы выявить контрафактную информацию, например, следы от шлифовки. Благодаря специальному режиму работы, лазер не влияет на наполнитель, поэтому мы можем видеть на нём абразивные метки под микроскопом. Вы можете определить природу абразивной метки, глядя на геометрию материала наполнителя, после того как удалили эпоксидную смолу. Типичный наполнитель будет иметь корону света, отражающуюся наверх, поскольку мы смотрим через микроскоп; однако, если частицы наполнителя являются плоскими, чему соответствует круглые, равномерно освещённые поверхности, то это явно шлифовальная / абразивная метка.

Удаление слоя компаунда без нагрева

Установка RETINA™ способна быстро, безопасно и избирательно удалять слои компаунда за секунды с точностью до микрона, по сравнению с 45-минутным процессом удаления компаунда при помощи нагретого растворителя.

Опции

X-Y стол

Система позиционирования X-Y стола позволяет быстро и легко размещать детали для оптимальной лазерной обработки.

  • Компактный, автоматизированный стол размером 50 мм X 150 мм X-Y .

Микроскоп и объективы

Один объектив включён в базовую комплектацию. Выберите дополнительные объективы в зависимости от размеров деталей, с которыми вы будете работать. Объектив 25 мм предназначен для больших деталей, в то время как объектив 50 мм – для небольших. Мы также можем предоставить другие варианты объективов, если у вас есть специальный запрос.

Камера предназначена для выравнивания исследуемых деталей и имеет возможность рисовать шаблоны декапсуляции поверх изображения. Тем не менее, для проверки деталей необходим отдельный микроскоп. Микроскоп не включён в стоимость заказа.

  • 25мм объектив;

  • 35мм объектив;

  • 50mm объектив.

Удаление вредных паров

Если у Вас нет вытяжной вентиляции, мы рекомендуем приобрести систему вытяжки, предназначенную для улавливания частиц и дыма, образующихся в лазерной системе.

  • FA2 система вытяжной вентиляции;

  • Интеграция системы вентиляции;

  • Дополнительные фильтры для системы вентиляции.

Вес и размеры:

Вес - 113,4 кг
Размеры - 1 м*1м*1м

Похожие товары
Обратите внимание на похожие модели и аналоги, как альтернативу вашему выбору.

 

  • Оформление заказа
  • Доставка
  • Техподдержка
masyuk.jpg
  • Отправьте запрос на сайте через форму обратной связи «ЗАКАЗАТЬ». Укажите необходимое количество товара и нужный способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Отправьте запрос на e-mail am@sernia.ru с темой «Запрос на оборудование», указав необходимое количество товара, сроки и способ доставки, любые другие детали запроса.
  • Позвоните  по телефону  +7 (495) 204-13-17 или  8 (800) 301-13-17 (бесплатный звонок для регионов), доб. 203, контактное лицо - Масюк Алексей Владимирович.

Варианты доставки оборудования:

Доставка SERNIA
  • Доставка транспортной компанией СПСР-экспресс до двери получателя. Стоимость доставки включается в счет;
  • Доставка любой другой транспортной компанией (до двери или до терминала ТК в вашем городе). Оплата доставки осуществляется при получении;
  • Самовывоз (Москва, Воробьевы Горы, Физический факультет МГУ,1, стр.2);
  • Доставка курьером по Москве и ближнему Подмосковью. Стоимость доставки включается в счет.

Сомневаетесь в выборе прибора? Проконсультируйтесь с нашим специалистом по измерительному оборудованию!

kolybin.jpg
  • На все вопросы Вам ответит инженер департамента измерительных комплексов Колыбин Станислав Игоревич.
  • Свяжитесь с ним по тел. +7 (495) 204-13-17 или
  • Отправьте письмо на e-mail: info@sernia.ru с указанием темы «Тех. консультация».
  • В письме укажите Ваш контактный телефон. Инженер свяжется с Вами в течении 1 часа.