Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI

Атомно-силовой микроскоп Nano-Оbserver - ваш мощный помощник для проведения исследований

Атомно-силовой микроскоп Nano-Observer CSI - это гибкий и мощный инструмент для нанотехнологий. Спроектированный с использованием новейших технологических решений микроскоп Nano-Observer AFM сочетает в себе большие исследовательские возможности и простоту использования. Система комплектуется большим числом опций и дополнительных измерительных модулей.

Система использует низкошумящий лазер и предварительную юстировочную систему, что облегчает получение достоверных изображений высокого качества с помощью различных методик АСМ.

Компактный микроскоп Nano-Observer AFM будет полезен в работе как начинающим исследователям, так и опытным пользователям. Режим предпросмотра образца и высокий уровень автоматизации позволяют быстро и удобно получать данные об образце на атомном уровне.

Области применения

• Исследования материалов и покрытий
• Исследование полимеров
• Изучение электрических свойств образцов
• Микроэлектроника
• Исследование «мягкого вещества»
• Биология

Nano-Observer CSI - многофункциональный атомно-силовой микроскоп

Электрические измерения: режимы HD-KFM, ResiScope, ResiScopeII, SoftResiScope

Бюджетная модель: максимальный результат за минимальные вложенияя

Контроль параметров среды: газа, влажности, температуры, биологические исследования

Легкость в управлении: видео камера для определения местоположения, вид сбоку, интуитивный интерфейс

Высокое разрешение, четкий контраст изображения: 0.06 нм по осям X-Y, 0.006 нм по оси Z

5 дополнительных модулей для расширения возможностей исследования: EFM, MFM, FMM, PFM, Conductive AFM

Модули для электрических измерений

HD-KFM (Kelvin Force Microscopy) - поверхностная потенциальная микроскопия

• Картирование поверхности
• Сверхвысокая чувствительность и высокое пространственное разрешение

ResiScope - модуль для контактных АСМ экспериментов

• Resiscope - это модуль для проведения контактных АСМ экспериментов. При помощи проводящего зонда считываются изменения токов и сопротивлений на большом поле зрения при подключении внешнего усилителя. Токовые характеристики можно снимать во всех участках образца.
• The ResiScope II - это система получения данных об электрическом сопротивлении образца с большим разрешением. Этот модуль можно комбинировать с другими модулями: MFM/EFM (AC/MAC) и KFM (AC/MAC III) для получения различной информации от одного и того же участка образца. Измерения проводятся за счет подачи потенциала между образцом и проводящей головкой зонда.

Модуль Soft ResiScope - модуль для измерения токовых характеристик

• Soft ResiScope - это динамический контактный модуль, который позволяет проводить контактные эксперименты, не повреждая поверхность образца.
• Модуль позволяет изучать органические фотоэлементы, проводящие полимерные структуры и биологические объекты.
  

Другие модули

Магнитно-силовая микроскопия (Magnetic Force Microscopy, MFM)


• Получение топографической информации от исследуемого объекта происходит в результате сканирования поверхности магнитной головкой

Проводящая атомно-силовая микроскопия (Conductive Microscopy)


• При использовании этого модуля проводящая головка считывает отклонения тока на поверхности образца и усиливает их. Кривые тока\напряжения могут быть построены для различных областей образца.

Метод модуляции силы

• В процессе реализации данной методики образец сканируется постоянной осциллирующей головкой, при таком периодическом движении кантилевер снимает данные о рельефе поверхности образца.

Качественные измерения


• При помощи низкощумящего лазера микроскоп Nano Observer может получать изображения высокого разрешения с высокой степенью надёжности.
• Высокое разрешение, четкий контраст изображения
  

Патентованный столик образцов Flexstage

• Точность перемещения и низкий дрейф
• Перемещение по трем независимым осям
• Получение атомарного и молекулярного разрешения на полях зрения до 100 микрон
• Разрешение сканирования: 0.06 нm по осям X-Y, 0.006 нм по оси Z

Контроль параметров среды

Защитный кожух для контроля температурных параметров

• Защищает от загрязнения и окисления образца
• Стабильные условия для проведения электрических экспериментов

Модуль контроля температуры

• Помимо контроля температурных параметров есть возможность изменять температуру образца в широком диапазоне температур: от комнатной до 200°C. Это позволяет изучать явления фазовых переходов, например, для полимерных или биологических образцов.

Режим измерения жидкостей

• Микроскоп может быть оборудован комплектом для проведения измерений на жидких образцах.